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產品簡介
詳細介紹
致遠 ZDL6000示波記錄儀
- 定制屬于自己的測試平臺
- 0.3%計量級測試精度
- 自由定制組合測試分析
- 集示波器和記錄儀于一體
計量級板卡精度
只有足夠高的測試精度，才能滿足復雜場景下的測試要求。ZDL6000的示波板卡測量精度Z高可達0.3%，非常適用于SiC、GaN等新材料電力電子器件的精確測量，同時可以作為標準實驗室的計量檢測依據(jù)。
輸入通道之間全隔離測量
每臺示波記錄儀標配8個板卡卡槽，各輸入通道之間相互絕緣隔離，盡可能地確保在強干擾、多參考電壓等復雜環(huán)境下的精確測試。
多種信號自由搭配
示波記錄儀可以提供電壓、電流、CAN、溫度…等多種輸入板卡，通道Z多可達128CH。用戶可根據(jù)具體的測試需求自由組合電信號和物理信號，滿足各種場景下的測試需求。
所有通道同步測試
示波記錄儀內部設有高穩(wěn)定性溫度補償?shù)?00MHz同步時鐘，避免了溫度帶來時鐘漂移所引入的測量誤差。同時也保證了每一個通道ADC的采樣相位同步，減少了測量時通道間相位角所引入的誤差，誤差在3ns以內，保證所有通道信號同步測試。
2Gpts大容量內存波形存儲
在示波模式下，實時波形存儲深度高達2Gpts，配合Z高可達100MS/s采樣率的板卡，非常適合長時間的波形采集。如果8個卡槽全部選配，可輕松實現(xiàn)16通道隔離示波器功能。
Z高2T固態(tài)硬盤存儲
在記錄模式下，示波記錄儀Z高可選配2T固態(tài)硬盤實時存儲，實時記錄采樣率可達1MSa/s，用作測量平臺時，耐久性測試的數(shù)據(jù)記錄時間可長達500天。
雙捕獲模式（后續(xù)上線）
長時間的趨勢數(shù)據(jù)通常采用低采樣率采集趨勢數(shù)據(jù)，但突發(fā)的高度瞬態(tài)異常信號需要采用高采樣率捕捉。通過雙捕獲功能，可以同時設置兩個不同的采樣率來滿足數(shù)據(jù)捕獲要求。在波形處于正常狀態(tài)時，保持低采樣率記錄波形變化趨勢，一旦波形滿足觸發(fā)條件，示波記錄儀將立即切換到Z高100MS/s的速度記錄高速瞬態(tài)事件。
