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XTU-XRF涂層測厚儀
  • XTU-XRF涂層測厚儀
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貨物所在地:廣東深圳市

更新時間:2025-03-29 10:08:53

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XRF涂層測厚儀,是x射線激發(fā)樣品產(chǎn)生的熒光,通過分析熒光的強(qiáng)度來計算出金屬電鍍鉻層厚度的測試設(shè)備。電鍍銀層測厚儀通過計算機(jī)自動操作,自動檢測算出電鍍鍍銀層厚度,操作方便。

XRF涂層測厚儀

   

鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

XRF涂層測厚儀,性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*圖像識別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機(jī)自動退出自檢、復(fù)位
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

XRF鍍層測厚儀,技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達(dá)五層鍍層
檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*微孔準(zhǔn)直技術(shù),小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

銅鍍鎳測試圖譜:


銅鍍鎳測試結(jié)果:

樣 品 名

成分Ni(%)

鍍層Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

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18.846

吊扣4#

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19.302

吊扣5#

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吊扣6#

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吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

標(biāo)準(zhǔn)偏差

0

0.273409

相對標(biāo)準(zhǔn)偏差

0

1.425257




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