電阻測(cè)試探針臺(tái)是用于測(cè)量微小電阻或半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的設(shè)備,核心功能包括四探針/多探針接觸、真空吸附固定樣品,支持自動(dòng)量程切換和高低溫測(cè)試(-190°C至400°C)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓測(cè)試、新材料表征(如超導(dǎo)材料)
首頁(yè)>>鄭州科探儀器設(shè)備有限公司>>視頻展示>>探針臺(tái)>>半導(dǎo)體材料電學(xué)特性測(cè)試探針臺(tái)
電阻測(cè)試探針臺(tái)是用于測(cè)量微小電阻或半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的設(shè)備,核心功能包括四探針/多探針接觸、真空吸附固定樣品,支持自動(dòng)量程切換和高低溫測(cè)試(-190°C至400°C)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓測(cè)試、新材料表征(如超導(dǎo)材料)
氣敏、高低溫等電學(xué)性能測(cè)試探針臺(tái)
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