日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

產(chǎn)品特點

• 樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）
• 通過光電導衰減法進行非接觸式測量
• 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測量規(guī)格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi)）

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

產(chǎn)品特點

• 樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）
• 通過光電導衰減法進行非接觸式測量
• 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測量規(guī)格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi)）