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HEIDENHAIN光柵直線光柵尺測量直線軸位置，沒有任何其
它機械傳動件。有效避免多個潛在誤差源
的影響：
? 滾珠絲杠發(fā)熱導致的定位誤差
? 反向誤差
? 滾珠絲杠螺距誤差導致的運動特性誤差
因此，直線光柵尺是需要高定位精度和高
速加工的機床*的基礎性技術。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
HEIDENHAIN光柵：是結(jié)合數(shù)碼科技與傳統(tǒng)印刷的技術，能在特制的膠片上顯現(xiàn)不同的特殊效果。在平面上展示栩栩如生的立體世界，電影般的流暢動畫片段，匪夷所思的幻變效果。
光柵是一張由條狀透鏡組成的薄片，當我們從鏡頭的一邊看過去，將看到在薄片另一面上的一條很細的線條上的圖像，而這條線的位置則由觀察角度來決定。如果我們將這數(shù)幅在不同線條上的圖像，對應于每個透鏡的寬度，分別按順序分行排列印刷在光柵薄片的背面上，當我們從不同角度通過透鏡觀察，將看到不同的圖像。敞開式直線光柵尺廣泛用于需要*測量 精度的機器設備。
典型應用包括：
• 半導體工業(yè)的測量和生產(chǎn)設備
• PCB電路板組裝機
• 超精密機床和設備，例如加工光學器件 的金剛石刀具，加工磁盤的端面車床和 加工鐵氧體元件的磨床
• 高精度機床
• 測量機和比較儀、測量顯微鏡和其它 精密測量設備
• 直驅(qū)電機 機械結(jié)構(gòu) 敞開式直線光柵尺包括光柵尺或鋼尺帶和 讀數(shù)頭，光柵尺和讀數(shù)頭間無機械接觸。 敞開式直線光柵尺的尺帶固定在安裝面 上。因此，為確保直線光柵尺的高精度， 必須確保安裝面平面度達到高標準。
HEIDENHAIN光柵有關以下產(chǎn)品的詳細信息，歡迎向我們索 取，內(nèi)置軸承角度編碼器
• 光學掃描的模塊型角度編碼器
• 磁電掃描的模塊型角度編碼器
• 旋轉(zhuǎn)編碼器
• 伺服驅(qū)動編碼器
• 直線光柵尺用于NC數(shù)控機床
• 接口電子電路
• 海德漢數(shù)控系統(tǒng)
選型指南 式光柵尺和輸出位置值的光柵尺 式位置測量 LIC敞開式直線光柵尺為式位置測量 的光柵尺，大測量范圍達28 m并允許高 速運動。 用在真空環(huán)境中的光柵尺 海德漢的標準光柵尺適用于一般或中等真 空應用。如果用于高真空和超高真空環(huán)境 中，光柵尺必須滿足特殊要求。在選擇光 柵尺的結(jié)構(gòu)設計和材質(zhì)中，必須特別滿足 這些條件的要求。更多信息，請參見真空 應用的直線光柵尺“技術信息”資料。 LIC 4113V和LIC 4193V直線光柵尺特別適 用于高真空度應用。更多信息，請參見相 應的“產(chǎn)品信息”資料。 輸出位置值的增量式光柵尺 LIP 211和LIP 291增量式直線光柵尺輸出 位置值信息。為此，正弦掃描信號在讀數(shù) 頭內(nèi)被高倍頻地細分，其計數(shù)功能將細分 的信號轉(zhuǎn)換成位置值。與所有增量式光柵 尺一樣，借助參考點確定原點。
測量原理 測量基準 海德漢公司的光學掃描光柵尺或編碼器的 測量基準都是周期刻線－光柵。這些光柵 刻在玻璃或鋼材基體上。對于大長度的光 柵尺，用鋼帶作為光柵尺基體。 海德漢公司用以下特別開發(fā)的光刻工藝制 造精密光柵。
• METALLUR：抗污染的鍍金層金屬柵 線；典型柵距：20 μm
• SUPRADUR相位光柵：光學三維平面格 柵；*抗污能力；典型柵距：不超過 8 μm • OPTODUR相位光柵：光學三維平面格 柵，超高反光性能；典型柵距：不超過 2 μm
• TITANID相位光柵：超高可靠性的光學 三維柵線結(jié)構(gòu)和高反光性能；典型柵 距：8 µm 除極小柵距外，由該工藝刻制的光柵擁有 優(yōu)異的邊緣清晰度和均勻性。
結(jié)合光電掃 描法，邊緣清晰的刻線是輸出高質(zhì)量信號 的關鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密刻線 機制造。 測量法 測量法是指光柵尺或編碼器在通電時 立即提供位置值并隨時供后續(xù)信號處理電 子電路讀取。
無需移動軸執(zhí)行參考點回零 操作。位置信息由測量基準上的光柵 讀取，它由系列式編碼組成。將單獨 的增量刻軌信號進行細分生成位置值，并 根據(jù)接口版本，還生成可選的增量信號。
更多產(chǎn)品詳見:德國HEIDENHAIN海德漢光柵