彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES 參考價：面議
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
嵌入式膜厚檢測儀 參考價：面議
● 采用分光干涉法● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專zhuan利 第4834847號）● 使用光學光纖，可靈活構筑測量系統(tǒng)● 可嵌入至各種制造設備?！?實時測...
小角激光散射儀 PP-1000 參考價：面議
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 參考價：面議
以最zui高機型MCPD-9800為首，一共有3種對應12波長領域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評價方法對應不同設備
多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)·nanoSAQLA 參考價：面議
nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統(tǒng)，實現(xiàn)了...
粒子徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA（帶AS50） 參考價：面議
●1個單元可輕松連續(xù)測量5個樣品?！駥崿F(xiàn)了在沒有自動進樣器的情況下難以實現(xiàn)的多個樣品的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣品的條件進行測量?！駱藴蕼y量時間為1分鐘的高...
分光配光測量系統(tǒng) GP series 參考價：面議
●支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量●還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量●可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數(shù)...
分光輻射照度測量系統(tǒng) 參考價：面議
該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價：面議
●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測●采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性●可進行高速的即時研磨檢測●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測●可對應長工作距離、且容易安裝...
光波場三維顯微鏡 MINUK 參考價：面議
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價：面議
本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價：面議
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結構分析、粒徑多角度測定)● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價：面議
ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價：面議
●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置?！襁m用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價：面議
利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
Load Port對應膜厚測量系統(tǒng) GS-300 參考價：面議
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊●支持半導體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對齊功能●小尺寸規(guī)格●高精度自...
半導體晶圓缺陷檢測儀 參考價：面議
半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) 參考價：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
光電流測試 參考價：面議
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。
便攜式拉曼光譜儀 參考價：面議
AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨立的研究儀器，旨在進行光譜測量，其能力達到*端系統(tǒng)的水平。 RU120采用剛性無活動部件設計，無需調整，具有...
高光譜測試系統(tǒng) 參考價：面議
高光譜測試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng)，其原理新穎，相比較其他分光系統(tǒng)具有光學相對孔徑大、色散線性度好、結構 緊湊和圖像成像質量佳等優(yōu)點。
顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕.對反射率測量?多層膜解析?光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) 參考價：面議
太陽能電池量子效率測試系統(tǒng)?Oriel 的 QEPVSI-b 是用于測量量子效率 （QE）（也稱為入射光子到電荷載流子效率 （IPCE）） 的預配置而靈活的解決...
太陽光模擬器 參考價：面議
Oriel Sol3A 太陽光模擬器采用單燈設計，滿足全部 3A 級性能標準，而不影 響其 1 個太陽光強輸出功率。按照慣例，AAA 級的第.一個字母代表光譜匹...
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