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產(chǎn)品簡介
該產(chǎn)品泛用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品材料在高溫、低溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)、鑒定檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
詳細(xì)介紹
可程式快速溫變試驗(yàn)箱
Rapid Temperature Change Test Chamber
該產(chǎn)品泛用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品材料在高溫、低溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)、鑒定檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。