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當前位置：天津瑞利光電科技有限公司>> 美國Semicansoft薄膜測量系統(tǒng)MProbe 20
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地天津市
更新時間：2025-08-10 11:20:08瀏覽次數(shù)：179次
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Semicansoft薄膜測量系統(tǒng)MProbe 20
產(chǎn)品型號：MProbe 20
產(chǎn)品介紹
MProbe 20是一種用于全球數(shù)千個應(yīng)用的薄膜厚度測量臺式系統(tǒng)。它只需單擊鼠標即可測量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地測量1nm至1mm的厚度，包括多層膜堆疊。不同的MProbe 20模型主要通過光譜儀的波長范圍和分辨率來區(qū)分，這反過來決定了可以測量的材料的厚度范圍和類型。該測量技術(shù)基于光譜反射——快速、可靠且無損。
性能特點
l 靈活：模塊化薄膜厚度測量系統(tǒng)：為您的應(yīng)用選擇更好配置，并在需要時輕松升級
l 精度：<0.01nm或0.01%
l 材料：500+擴展材料數(shù)據(jù)庫
l 軟件：用戶友好且功能豐富的TFCompanion軟件甚至可以處理復(fù)雜的應(yīng)用程序。層數(shù)無限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
l 集成：輕松集成TCP服務(wù)器
l 實時、一鍵測量和分析
l 測量歷史：調(diào)用/顯示測量結(jié)果和統(tǒng)計數(shù)據(jù)
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)地：美國
精度：＜0.01nm或0.01%（在200nm氧化物上進行100次測量的s.d.）
<1nm或0.2%（依賴于膠片堆棧）
穩(wěn)定性：＜0.02nm或0.2%（20天，每天測量）
測量厚度：1nm至1mm
光斑尺寸：<1mm
樣品尺寸：>=10mm
主機：包括光譜儀、光源、光控制器微處理器
樣品臺：SH200A
探頭：光纖反射
測試樣品：200nm氧化硅或PET薄膜
電纜：USB或LAN
電源適配器：24VDC
電壓：110/220V
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