北京時(shí)代光南檢測(cè)技術(shù)有限公司

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供應(yīng)簡(jiǎn)介

涂層測(cè)厚儀探頭涂層測(cè)厚儀F1探頭工作原理：磁感應(yīng)|分辨力：0

詳細(xì)介紹

涂層測(cè)厚儀探頭

涂層測(cè)厚儀F1探頭

工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
測(cè)量范圍：0-1250um
示值誤差：

1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um

測(cè)量條件:

1、最小曲率半徑：凸1.5mm
2、基體最小面積的直徑：Ф7mm
3、最小臨界厚度：0.5mm

探頭尺寸：Ф12X47mm

涂層測(cè)厚儀N1探頭

工作原理：電渦流 | 分辨力：0.1um
測(cè)量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um
示值誤差：

1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um

測(cè)量條件:

1、最小曲率半徑：凸3mm
2、基體最小面積的直徑：Ф5mm
3、最小臨界厚度：0.3mm

探頭尺寸：Ф15X73mm

F1探頭是磁性法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測(cè)量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

N1探頭是渦流法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測(cè)量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

涂層測(cè)厚儀F400探頭

工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
測(cè)量范圍：0-400um
示值誤差：

1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+0.7]um

測(cè)量條件:

1、最小曲率半徑：凸1mm
2、基體最小面積的直徑：Ф3mm
3、最小臨界厚度：0.2mm

探頭尺寸：Ф12X55mm

涂層測(cè)厚儀F10探頭

工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：10um
測(cè)量范圍：0-10000um
示值誤差：

1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[1%H+1]um
2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+10]um

測(cè)量條件:

1、最小曲率半徑：凸10mm
2、基體最小面積的直徑：Ф10mm
3、最小臨界厚度：2mm

探頭尺寸：Ф27X47mm

F400為選配探頭，主要用于較薄厚度的涂層測(cè)量，可獲得更精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果和更高的重復(fù)性，另外在管材基體直徑較小或者被測(cè)區(qū)域接觸面積較小時(shí)，F(xiàn)400探頭也是較好的選擇。

F10為選配探頭，測(cè)量范圍由標(biāo)配的0-1250um擴(kuò)展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測(cè)量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片，用于校準(zhǔn)儀器。

涂層測(cè)厚儀F1|90探頭

工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
測(cè)量范圍：0-1250um
示值誤差：

1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um

測(cè)量條件:

1、最小曲率半徑：平直
2、基體最小面積的直徑：Ф7mm
3、最小臨界厚度：0.5mm

探頭尺寸：Ф7.5X11X200mm

涂層測(cè)厚儀CN02探頭

工作原理：電渦流 | 分辨力：1um
測(cè)量范圍：10-200um
示值誤差：

1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：—

測(cè)量條件:

1、最小曲率半徑：平直
2、基體最小面積的直徑：Ф7mm
3、最小臨界厚度：無(wú)限制

探頭尺寸：Ф16X67mm

F1/90為選配探頭，主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測(cè)量。它細(xì)長(zhǎng)的身形可以輕松的深入其它探頭無(wú)法到達(dá)的細(xì)管中；對(duì)于夾層和細(xì)縫中的涂層厚度也能很好的測(cè)量。

CN02為選配探頭，主要用于測(cè)量線路板上的銅箔厚度，檢測(cè)范圍在10-200um之間。

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