丹青WinWerth TomoAssist測量軟件

僅需幾步即可實現(xiàn)最佳的斷層掃描

自動確定最佳設(shè)置進一步簡化了計算機輔助斷層掃描三維測量機的使用。無論操作員經(jīng)驗如何，WinWerth TomoAssist都能確保測量時間短且具有良好的重復性。

使用新的軟件模塊Werth的WinWerth TomoAssist,TomoScope和TomoCheck機器更易于使用。

TomoAssist會自動確定特定測量任務(wù)的最佳CT配置參數(shù)。對管功率提出建議，緊張，硬件過濾器，曝光時間和投影次數(shù)。新工藝考慮了零件的特性，如幾何，方向和材料，以及所需的結(jié)構(gòu)性決議，取決于控制的關(guān)鍵尺寸。

使用WinWerth@TomoAssist，任何用戶都可以在短的測量時間內(nèi)獲得良好的可重復性，無論其經(jīng)驗水平如何。

當指定測量值的精度(例如零件制造公差)時，將自動調(diào)整參數(shù)以最大限度地減少測量時間。

提供。節(jié)省時間降低了檢查成本。如果測量時間已指定，正如在由制造周期時間定義時經(jīng)常發(fā)生的情況，精度自動優(yōu)化，并提供預期值。這樣可以避免復雜和昂貴的測試測量，并可以有效地使用機器。任何用戶都可以在幾步內(nèi)確定最佳斷層掃描參數(shù)，無需任何專業(yè)知識。

有經(jīng)驗的用戶還可以使用WinWerth@omoAssist來調(diào)整單個參數(shù)，以適應(yīng)條件變化到極限。在給定的結(jié)構(gòu)分辨率下，可以管功率水平，例如。優(yōu)化電壓和預濾波器確保了高對比度和低噪聲。兩者都可以增加可重復性，或減少測量時間。通過優(yōu)化曝光時間和旋轉(zhuǎn)步數(shù)，測量時間減少到低限度。

WinWerth@TomoAssist涵蓋各種應(yīng)用，從首 -件檢驗到測量序列的創(chuàng)建和優(yōu)化。

在給定測量時間的精度優(yōu)化(上圖)WinWerth@TomoAssist自動調(diào)整算法確保在相同測量時間的精度(綠色)高于人工(紅色)。在指定精度的測量時間優(yōu)化(下圖):WinWerth@TomoAssist自動調(diào)整算法確保測量時間(綠色)比人工(紅色)更短。

人工(紅色)與指定精度的測量時間。盡管操作員接受更長的測量時間以確保安全，但TomoAssist達到了更好的精度。