日本And艾安德非接觸式靜電測量儀 AD-1684A

日本And艾安德非接觸式靜電測量儀 AD-1684A

一、產(chǎn)品核心創(chuàng)新

本設(shè)備突破傳統(tǒng)接觸式測量局限，采用三重平面感應陣列技術(shù)，實現(xiàn)0.1-50mm非接觸檢測距離可調(diào)。關(guān)鍵創(chuàng)新包括：

1. 智能距離補償系統(tǒng)：通過激光輔助定位自動校正測量距離誤差（±0.5mm精度）

2. 雙模式檢測：

• 靜電場模式：±0.01kV~±20kV量程（分辨率0.001kV）

• 離子平衡模式：±200V范圍（符合ANSI/ESD S3.1標準）

3. 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)接口：支持Modbus RTU協(xié)議，可接入MES系統(tǒng)實現(xiàn)數(shù)據(jù)追溯

二、實測性能參數(shù)

經(jīng)日本電子計測協(xié)會（JEMIMA）認證：

• 響應時間：0.3秒（90%量程）

• 溫度漂移：±0.005%/℃（5-35℃環(huán)境）

• 長期穩(wěn)定性：±1%/年（標準校準周期）

• 抗干擾能力：在30kV/m電磁場中誤差<3%

三、典型應用驗證

1. 半導體制造
   在12英寸晶圓檢測中：

• 識別0.5μm線路的靜電分布梯度

• 與接觸式測量儀對比誤差<±2%

2. 醫(yī)療包裝
   完成FDA 21 CFR Part 11合規(guī)驗證：

• 西林瓶表面電位映射（100點/分鐘）

• 數(shù)據(jù)完整性通過ALCOA+原則審計

3. 科研領(lǐng)域
   與AND GF-3000天平聯(lián)用：

• 實現(xiàn)μg級樣品的靜電-質(zhì)量耦合分析

• 發(fā)表3篇SCI收錄論文

四、服務體系

• 提供NIST可追溯校準證書

• 可選配自動掃描支架（行程精度±0.1mm）

• 中國區(qū)技術(shù)中心配備Class 1000級校準實驗室