LUYOR-3325G

產(chǎn)品介紹

便攜式黃綠光表面檢查燈LUYOR-3325G采用了36w的高功率led作為光源，能夠發(fā)出570-580nm的黃綠光，光斑均勻，產(chǎn)品輕便，可以手持著檢查產(chǎn)品表面的顆粒物、劃痕、手印等產(chǎn)品缺陷，也可以配合臺(tái)式支架作為臺(tái)式黃綠光表面檢查燈進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間檢查。

產(chǎn)品特點(diǎn)

輕便：沒(méi)有繁重電源箱，手持操作，方便快捷。

省時(shí)：即可即用，無(wú)需等待。

經(jīng)濟(jì)：光源壽命長(zhǎng)達(dá)50000小時(shí)，無(wú)須頻繁更換燈泡。

光斑均勻，檢查效率高，減少漏檢。

安全：長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行，不發(fā)燙，沒(méi)有燙傷危險(xiǎn)。

高效：led光源，發(fā)光效率高，節(jié)省能源。

光譜純正：不會(huì)產(chǎn)生紫外線。

產(chǎn)品應(yīng)用

半導(dǎo)體和芯片制造中的晶圓檢測(cè)

太陽(yáng)能行業(yè)和光伏發(fā)電的晶圓測(cè)試

所有晶圓尺寸的視覺(jué)晶圓表面測(cè)試：25mm（1英寸）、38mm（1.5英寸）、51mm（2英寸）、75mm（3英寸）、100mm（4英寸）、125mm（5英寸）、150mm（6英寸）、200mm（8英寸）、300mm（12英寸）、450mm（18英寸）

外延晶圓的檢測(cè)

單晶硅片和多晶晶片的光學(xué)測(cè)試

硅片表面的目視測(cè)試

也可以檢查方形晶圓

原晶圓和結(jié)構(gòu)化晶圓的測(cè)試

外延晶圓（EPI晶圓）和SOI晶圓表面分析

用黃光燈測(cè)試金晶圓

使用紫外燈目視檢查晶體硅片

所有材料晶圓的光學(xué)表面檢測(cè)：硅、鍺、碳化硅、砷化鎵、藍(lán)寶石、玻璃等。

SEMI標(biāo)準(zhǔn)晶圓的目視檢測(cè)

鍵合晶圓、膠帶晶圓的質(zhì)量檢查

視覺(jué)晶圓檢測(cè)也適用于裸晶圓、薄晶圓和扇出晶圓

強(qiáng)曲面晶圓（eLWB等）的光學(xué)質(zhì)量控制和檢測(cè)等。