ProSp-STAGE-RT透反射測量支架，由底座、高精密滑軌、載物臺、精密位移臺和2個(gè)準(zhǔn)直透鏡組成。這個(gè)支架可以測量固體樣品的透反射光譜，也可以測量固體、粉末樣品的熒光光譜（配套熒光探頭）。對于反射光譜，可以實(shí)現(xiàn)上反射和下反射測量。測量距離可以調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同厚度的樣品

應(yīng)用實(shí)例1-透過率測量

設(shè)備清單：

USB2000+光譜儀

SPL-HL鎢燈光源

ProSp-STAGE-RT透反射測量支架

SPLF400-2-VIS光纖（2）

應(yīng)用實(shí)例2-反射率測量

設(shè)備清單：

USB2000+光譜儀

SPL-HL鎢燈光源

ProSp-STAGE-RT透反射測量支架

QR400-7-VIS-NIR反射探頭

WS-1標(biāo)準(zhǔn)反射板

參數(shù)指標(biāo)