球形探針作為一種關(guān)鍵工具，在原子力顯微鏡（AFM）、掃描電鏡（SEM）以及納米壓痕測試中扮演著重要的角色。它不僅能夠提供精確的三維形貌信息，還能揭示材料的機(jī)械性能。本文將詳細(xì)介紹球形探針的工作原理、主要類型及其應(yīng)用場景。
一、工作原理
球形探針通過與樣品表面接觸或接近來獲取其形貌和物理特性信息。根據(jù)不同的應(yīng)用場景，該產(chǎn)品可以采用不同的操作模式，如接觸模式、輕敲模式或非接觸模式。其核心在于球形的設(shè)計(jì)，確保了與樣品表面的有效互動。
1、接觸模式
在接觸模式下，直接接觸樣品表面，通過記錄彎曲程度的變化來繪制樣品的三維形貌圖。
2、輕敲模式
輕敲模式則利用探針以一定頻率振動，當(dāng)探針接近樣品表面時(shí)，振幅發(fā)生變化，從而實(shí)現(xiàn)對樣品形貌的精確測量。
3、非接觸模式
非接觸模式下，探針不直接接觸樣品，而是通過監(jiān)測探針與樣品間的相互作用力來獲取表面信息，適用于易損樣品的測量。
二、主要類型
1、金剛石
因其高硬度和耐磨性而廣泛應(yīng)用于高分辨率測量。它們能夠在惡劣條件下保持形狀穩(wěn)定，適合長期使用。
2、氧化鋁
具有良好的化學(xué)穩(wěn)定性和較低的成本，適用于多種常規(guī)測量任務(wù)。
3、碳化硅球
兼具高硬度和良好的熱穩(wěn)定性，特別適合高溫環(huán)境下的測量。
4、聚合物球
質(zhì)地柔軟，適用于對軟質(zhì)材料進(jìn)行無損測量，如生物組織或聚合物薄膜。
三、應(yīng)用場景
1、材料科學(xué)研究
在材料科學(xué)領(lǐng)域，用于分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和機(jī)械性能，如硬度、彈性模量等。這些數(shù)據(jù)對于新材料的研發(fā)至關(guān)重要。
2、半導(dǎo)體制造
半導(dǎo)體制造過程中，被用來檢測芯片表面的平整度和缺陷，確保產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)到最高標(biāo)準(zhǔn)。
3、生物醫(yī)學(xué)研究
在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，可用于細(xì)胞和組織的微觀結(jié)構(gòu)分析，幫助研究人員了解細(xì)胞間的相互作用及疾病機(jī)理。
4、納米技術(shù)
納米技術(shù)的發(fā)展離不開該產(chǎn)品的支持，特別是在納米尺度下的形貌表征和力學(xué)性能測試方面。
1
立即詢價(jià)
您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)