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儀景通檢測(cè)技術(shù)(北京)有...

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利用EVIDENT在腐蝕檢測(cè)領(lǐng)域的全新進(jìn)展,克服在環(huán)境和可達(dá)性方面的挑戰(zhàn)!

閱讀:17      發(fā)布時(shí)間:2025-8-15
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在尋找用于偏遠(yuǎn)地區(qū)檢測(cè)或受限區(qū)域檢測(cè)的優(yōu)質(zhì)便攜式無(wú)損檢測(cè)(NDT)工具時(shí),要考慮以下重要標(biāo)準(zhǔn):


  • 安裝簡(jiǎn)單,操作方便

  • 可靠、高質(zhì)量的結(jié)果


要在相控陣超聲檢測(cè)(PAUT)過(guò)程中獲得高質(zhì)量的信號(hào),必須確保聲波能夠均勻地傳入被測(cè)部件中。探頭和工件表面之間的良好耦合是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵因素。在選擇用于檢測(cè)的耦合系統(tǒng)之前,需要考慮工件表面的狀況。對(duì)于嚴(yán)重腐蝕和不平整的表面,最好采用局部水浸檢測(cè)技術(shù),但對(duì)于光滑的表面,較硬的楔塊可能更具優(yōu)勢(shì)。


本篇內(nèi)容,我們將討論這些表面類型,并概況介紹Evident為這些情況提供的解決方案。

 

局部水浸技術(shù)的優(yōu)勢(shì)


在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行維護(hù)檢測(cè)時(shí),局部水浸掃查系統(tǒng)(例如Evident裝有I8相控陣探頭的HydroFORM掃查器)是一種可以提供穩(wěn)定耦合效果的解決方案。其低流量水層帶有泡沫墊圈,可貼合在工件上,以保持與表面的良好耦合狀態(tài),即使在彎曲或不規(guī)則的被測(cè)表面上(如管道、箱罐和焊接接頭)也是如此。 然而,這種局部水浸系統(tǒng)需要外部供水系統(tǒng)來(lái)供水。

在偏遠(yuǎn)地區(qū)進(jìn)行檢測(cè),或檢測(cè)難以到達(dá)的目標(biāo)時(shí),要獲得恒定水流的愿望,可能不切實(shí)際或無(wú)法實(shí)現(xiàn)。在某些特殊情況下,考慮到污染問(wèn)題,相關(guān)的環(huán)境法規(guī)還可能會(huì)禁止使用自由流動(dòng)的液體。

 


當(dāng)水流“不通”時(shí)怎么辦?


如果沒(méi)有自來(lái)水供應(yīng),還能獲得高質(zhì)量的數(shù)據(jù)嗎? 答案是肯定的! 對(duì)于表面相對(duì)光滑且供水存在問(wèn)題的情況,HydroFORM相控陣掃查器提供了一種只需少量耦合劑的選項(xiàng)。該解決方案配備REX2雙晶線陣(DLA)探頭和小車系統(tǒng),只需要很薄的水層,因此一個(gè)噴霧瓶就足夠了。


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為了簡(jiǎn)化借助繩索攀爬才能進(jìn)行的檢測(cè),REX2 DLA和HydroFORM解決方案只需少量耦合劑就可完成腐蝕成像。

REX2 DLA的彈簧加載機(jī)制有助于保持探頭的Rexolite延遲塊與表面持續(xù)接觸,從而可在沒(méi)有外部供水的情況下確??煽康穆暡▊鞑?。


高效、多功能掃查解決方案


REX2探頭的孔徑是REX1 DLA探頭孔徑的兩倍,具有DLA探頭的所有優(yōu)點(diǎn)(例如高于傳統(tǒng)雙晶UT探頭的數(shù)據(jù)點(diǎn)密度),而且還有其他優(yōu)點(diǎn):

  • 聲束覆蓋范圍更大,掃查效率更高。

  • 由于分辨率提高,檢出率(POD)也隨之提高。

  • 與HydroFORM掃查器配合使用,可方便地進(jìn)行編碼掃查。

與線性探頭技術(shù)相比,DLA探頭使用帶有角度且具有聲學(xué)隔離特性的發(fā)射和接收晶片陣列,可獲得更接近被測(cè)工件表面的更小的焦點(diǎn)。因此,與線性相控陣探頭相比,使用DLA探頭掃查所獲得圖像中的缺陷拉伸更小,從而在掃查方向上得到的定量準(zhǔn)確度更加可靠。

此外,DLA設(shè)計(jì)大幅減少了表面反射的波幅,提高了近表面分辨率,可使您看到更接近表面的關(guān)鍵缺陷。

 

圖示為聲波在雙晶線性相控陣探頭的發(fā)射和接收陣列中的一發(fā)一收路徑,旁邊是波形掃查結(jié)果

DLA探頭中以一定角度安裝的陣列采用一發(fā)一收技術(shù),大幅減少了界面回波,提高了近表面分辨率。

根據(jù)應(yīng)用要求,客戶在訂購(gòu)REX2探頭時(shí)可以選擇多個(gè)選項(xiàng):

  • 1°或5°屋頂角(取決于工件厚度)

  • 雙晶32晶片陣列(需要兼顧速度和成本時(shí))

  • 雙晶64晶片陣列(優(yōu)先考慮成像和分辨率時(shí))

  • 要提高曲面上的耦合效果,可以選擇具有不同AOD曲率的多種楔塊(SREX2系列)

  • 可選擇小車或掃查器:帶輪子的小車(與Mini-Wheel編碼器兼容)或帶ScanDeck模塊的XY軸編碼HydroFORM掃查器。

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REX2 DLA探頭(左圖);安裝在小車上的REX2 DLA探頭(中圖);安裝在HydroFORM掃查器上的REX2 DLA探頭(右圖)。 兩種系統(tǒng)的輪子穩(wěn)定器都能使掃查更平穩(wěn)。


進(jìn)行手動(dòng)、半自動(dòng)或自動(dòng)掃查


您可以將REX2與小車附件配套使用進(jìn)行手動(dòng)掃查,或?qū)⑵浼傻紿ydroFORM掃查器上,使這種半自動(dòng)化解決方案具備DLA功能。

探測(cè)到腐蝕缺陷的相控陣掃查結(jié)果顯示在與REX2雙晶線陣探頭和Mini-Wheel編碼器(放置在金屬板上)連接的OmniScan X4探傷儀的屏幕上。

OmniScan X4探傷儀與安裝在小車上的REX2 DLA探頭配合使用進(jìn)行檢測(cè),小車上裝有Mini-Wheel編碼器。

除了HydroFORM掃查器的XY軸編碼能力之外,其ScanDeck模塊上的功能(包括智能步進(jìn)按鈕、步進(jìn)導(dǎo)引、耦合檢查指示器和掃查速度檢查)還簡(jiǎn)化了腐蝕成像操作,尤其是對(duì)于獨(dú)自進(jìn)行操作的檢測(cè)人員而言。


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REX2雙晶線性陣列探頭安裝在帶有ScanDeck模塊的具有XY軸編碼功能的HydroFORM掃查器中。

探頭安裝到HydroFORM掃查器中之后,您可以將組件安裝到電動(dòng)MapROVER掃查器上,以擴(kuò)展REX2 DLA探頭檢測(cè)管道的能力,實(shí)現(xiàn)高通量自動(dòng)化腐蝕成像,還可以將組件安裝到SteerROVER掃查器上,進(jìn)行遠(yuǎn)程檢測(cè)。

與HydroFORM掃查器組裝在一起的遠(yuǎn)程控制SteerROVER掃查器,放置在帶有焊縫的金屬表面上

集成了HydroFORM和SteerROVER掃查器的強(qiáng)大的掃查組合設(shè)備。


采用TFM和PCI技術(shù)準(zhǔn)確檢測(cè)和

測(cè)量具有挑戰(zhàn)性的腐蝕機(jī)制


與REX1探頭一樣,REX2 DLA探頭的PR接線經(jīng)過(guò)優(yōu)化,可滿足OmniScan X4 探傷儀的全聚焦方式(TFM)和相位相干成像(PCI)對(duì)復(fù)雜聚焦法則的要求。

配備了REX2 DLA探頭后,HydroFORM掃查器就可以借助TFM和PCI能力進(jìn)行腐蝕成像了,從而可為通常難以檢測(cè)的損壞(如點(diǎn)蝕或垂直方向上的裂紋)提供高分辨率圖像。您還可以利用TFM和PCI的高靈敏度來(lái)發(fā)現(xiàn)復(fù)雜、較小的凹坑和缺陷,如H2S逐步開(kāi)裂(也稱為氫致開(kāi)裂或HIC),否則可能無(wú)法發(fā)現(xiàn)這些缺陷。

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使用OmniScan X4探傷儀和配備了REX2 DLA探頭的HydroFORM掃查器獲取的氫致逐步開(kāi)裂(HIC)的相位相干成像(PCI)圖像

對(duì)于希望獲得高效、易于實(shí)施的腐蝕檢測(cè)解決方案以對(duì)相對(duì)光滑表面進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)人員來(lái)說(shuō),REX2是一個(gè)值得認(rèn)真考慮的選擇。在HydroFORM掃查器與OmniScan X4探傷儀配合使用時(shí),REX2 DLA探頭具有以下優(yōu)勢(shì):

  • 對(duì)于不適合或不可能使用水層的應(yīng)用,它是局部水浸技術(shù)的理想替代方案。
  • 在對(duì)近表面分辨率要求更嚴(yán)格的應(yīng)用中,它可以為您提供幫助。
  • 它助力您利用TFM和PCI等先進(jìn)技術(shù)來(lái)發(fā)現(xiàn)難以探測(cè)到的損壞機(jī)制。


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