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[供應]CMI 500-孔內鍍銅測厚儀
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  • CMI 500-孔內鍍銅測厚儀
產地:
美國
更新時間:
2024-09-04 10:52:20
有效期:
2024年9月4日 -- 2025年3月4日
已獲點擊:
305
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產品簡介

能夠用于測量電路板蝕刻工序前、后穿孔鍍銅厚度的便攜式測厚儀。測量不受被測表面層溫度的影響讀數(shù)極其準確與可靠。

詳細介紹

CMI511便攜式孔內鍍銅厚度測厚儀是采用電渦流無損測試技術,用于現(xiàn)場測量蝕刻(前或後)電鍍銅或鉛錫之電路板孔內鍍銅厚度,此機不適用於已電鍍鎳之電路板孔內鍍銅厚度測量。

通過渦流的原理來測量的,ETP探頭上有一根探針,探針是由兩個線圈組成的,測量時其中一個線圈發(fā)射電磁場,導體內部自由電子在電磁場中做圓周運動,產生回旋電流(即渦流),渦流再產生一個與該線圈產生的電磁場方向相反的電磁場,由另一個線圈接收,產生電信號,由于孔銅厚度不同而此信號大小不同而測量出孔銅厚度。這樣可以看出金屬的電導率不同其產生電信號強弱也不同,所以測出的厚度也不一樣.所以要設定基材銅(面銅)﹑板厚和蝕刻前后項目

技術參數(shù):

測量技術 : 渦電流
孔徑 : 0.889 mm以上
厚度范圍 : 6-102 μm
可測薄板厚: 1.6 mm
讀數(shù)單位 :mil or μm
存儲容量 :2000讀數(shù)
統(tǒng)計數(shù)據(jù) :可顯示測量值、平均值、標準偏差、zui大值、zui小值
精度 :小於25 μm ,為±0.25 μm .大於25 μm為±5
電池 :9V 電池-50小時或充電器
重量 :255克 ,包含電池

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