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SNE-4500-臺式掃描電子顯微鏡SEM
  • SNE-4500-臺式掃描電子顯微鏡SEM
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-01-23 21:00:07

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臺式掃描電子顯微鏡SEM
A:Z大放大倍率10萬倍
B:圖像景深高,立體感強,分辨率高
C:載物臺五軸控制系統(tǒng)(傾斜功能),XY(40MM),R(360),TILT(0-45),Z(0-35MM)
D:配備四級可變光闌(30,50,100,200μm),通過調(diào)整電子束大小可提供高分辨率圖像
E:自動對焦,自動調(diào)整對比度和亮度,調(diào)整電子書尺寸,消像散
F:樣品艙大可進行多種多樣樣品分

 

SNE-4500G臺式掃描電子顯微鏡SEM

主機
A. 技術(shù)參數(shù)
1. 分辨率:5nm (30kV, SE Image)
2. 放大倍率:30x~100,000x (有效放大倍率60,000x)
3. 加速電壓 :
5kV to 30kV (5Kv/10Kv/15kV/20kV/30Kv-5 step)
4. 圖像:
二次電子圖像-(SEI)-Secondary Electron Image
5. Observation mode: Standard Mode
6. 電子槍系統(tǒng):
燈絲類型:預對中鎢燈絲
偏壓系統(tǒng):自動偏壓方式
電子槍校正:手動方式
7. 透鏡構(gòu)成
i. 聚光鏡 : 2段式磁線圈透鏡
ii. 物鏡 : 1段式磁線圈透鏡
8. 探測器類型
E-T Detector
9. 載物臺系統(tǒng):5軸操控
- X, Y-axis : 40mm / R-axis : 360°
- Z : 0~35mm / Tilt-axis : 0~45°
10. Image shift:X, Y Image Shift (100?)
11. 樣品zui大尺寸 :
80mm in diameter, 35mm in height

SNE-4500G臺式掃描電子顯微鏡SEM

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