四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇: 四探針探頭是四探針法測試電阻率/方阻測試系統(tǒng)的關鍵部件。探頭通過四根探針,以適當?shù)膲毫忘c陣形式與樣品接觸,連接四探針儀器后,實現(xiàn)四探針法電流的加載,電壓的取樣。應根據樣品的物理特性,如是固體還是粉末,是一般硅片、金屬等硬質材料還是柔性薄膜、涂層、ITO膜類材料,是單一導電層材料還是復合導電層,樣品的尺寸大小等條件來選擇探頭的壓力和點陣形式,選擇型號。 表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》 序號 | 型號 | 名稱 | 特征圖片 | 規(guī)格參數(shù) | 選用場合 | 1 | ST2253-F01 | 鎢針直線四探針探頭 |
| 直線四探針針距:1+1+1,探針:碳化鎢針 | 硅片、金屬等硬材料電阻率/方阻測試 | 2 | ST2558A-F01 | 光伏電池片方阻直線四探針探頭 | 
| 直線四探針針距:2+2+2,探針:長鋼尖針 | 硅材料光伏電池片方阻測試 | 3 | ST2558A-F02 | 薄膜方阻刀型測試臺 | 
| 刀型測試臺刀距100,刀寬100 | 柔性薄膜、金屬涂層膜方阻測試 | 4 | ST2558B-F01 | 薄膜方阻直線四探針探頭 | 
| 直線四探針針距:2+2+2,探針:鍍金磷銅半球形針尖 | 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試 | 5 | ST2558B-F02 | 箔上涂層電阻率方阻四端子探頭 | 
| 針距8,直徑4探針:圓柱平端面 | 箔上涂層電阻率/方阻測試 | 6 | ST2558B-F03 | 薄膜方阻直線四探針探頭 |  | 直線四探針針距1+1+1,探針:鍍金磷銅半球形針尖 | 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試 | 7 | ST2571A-F01 | 薄膜方阻矩形四探針探頭 | | 矩形四探針針距1X1探針:碳化鎢針 | 硅片電阻率和方阻儀 | 8 | ST2571A-F02 | 薄膜方阻矩形四探針探頭 | 
| 矩形四探針針距1X1探針:鍍金磷銅半球形針尖 | 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試 | 9 | ST2571A-F03 | 薄膜方阻矩形四探針探頭 | 
| 矩形四探針針距2X2探針:鍍金磷銅半球形針尖 | 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試 |
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