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1、篩分法古老的粒度檢測方法。成本低廉，對粗顆粒檢測較為直觀。只能測試粒徑10-20微米以上的粉體，不能給出詳盡的粒度分布。
2、電阻法 電阻法的優(yōu)點是測量精度高，可以測量單位體積內顆粒數量。不足之處在于量程較小，測量動態(tài)范圍也小，只適合窄分布樣品。
3、圖像法 圖像法的優(yōu)勢是測量數據詳盡，可以提供顆粒形貌測試分析。配置不同成像系統(tǒng)成本及性能差異巨大，測量動態(tài)范圍不足。
4、動態(tài)光散射 動態(tài)散射光納米粒度儀的優(yōu)勢就是測量下限可小于1納米，它的性能優(yōu)勢在納米及亞微米區(qū)間，且不擅長測試寬分布樣品。
5、靜態(tài)光散射 激光粒度分析儀的優(yōu)勢是量程大、動態(tài)測量范圍寬。是當前主流的粒度測試儀，適用于絕大多數的粉體行業(yè)。
6、其它方法 粒度測試的辦法還有很多。例如沉降法、超聲法、透氣法等等。這里就不一一舉例介紹。下面將給大家介紹一下當今應用廣泛的激光粒度儀測試原理。 激光粒度儀原理： 光是一種電磁波，光波在直線傳輸過程中遇到障礙物會發(fā)生偏轉。偏轉的角度跟障礙物的幾何尺寸相關。當障礙物（顆粒）幾何尺寸越大時，光波偏轉的角度越小。反之，障礙物（顆粒）的幾何尺寸越小，光波偏轉角度越大。 激光粒度儀是利用光散射效應進行粒度測試的。
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