局部放電檢測(cè)儀TEV測(cè)量程序介紹_局部放電檢測(cè)儀廠家

    武漢赫茲電力是局部放電檢測(cè)儀廠家，生產(chǎn)的局部放電測(cè)試儀廣受電力工作者歡迎，下面為您介紹一下局部放電檢測(cè)儀TEV測(cè)量程序。

    局部放電檢測(cè)儀TEV測(cè)量程序介紹_局部放電檢測(cè)儀廠家

    1背景噪聲

    開(kāi)關(guān)柜外部的一些源發(fā)出的電磁信號(hào)也可能在開(kāi)關(guān)柜的外部產(chǎn)生傳輸?shù)仉娢?。這些源可以是架空線(xiàn)絕緣子、變壓器進(jìn)線(xiàn)套管、強(qiáng)的無(wú)線(xiàn)電信號(hào)甚至是附近的車(chē)流。這些干擾也可以在不連接到開(kāi)關(guān)柜的金屬體如變電站房門(mén)或圍欄等金屬體上產(chǎn)生傳輸?shù)仉娢恍盘?hào)。因此在對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行檢測(cè)之前，就應(yīng)該測(cè)量這些表面上的背景噪聲。

    測(cè)量不屬于開(kāi)關(guān)柜組成部分的金屬體如金屬門(mén)、金屬?lài)鷻诘鹊谋尘霸肼暋Ｓ浵氯芜B續(xù)的有關(guān)金屬體的分貝值和計(jì)數(shù)，并取中間幅值的讀數(shù)作為背景測(cè)量的讀數(shù)。

    2進(jìn)行測(cè)量

    開(kāi)啟局部放電檢測(cè)儀器，確保TEV傳感器處在離開(kāi)金屬體的空間中，否則會(huì)影響自檢。選擇TEV模式。為了進(jìn)行測(cè)量，應(yīng)該使TEV探頭垂直地與在其上面要進(jìn)行測(cè)量的金屬體接觸。

    對(duì)開(kāi)關(guān)柜的測(cè)量是在每一個(gè)面板的每一個(gè)部件如電纜盒、電流互感器室、母排室、斷路器以及電壓互感器等的中心位置進(jìn)行的。

    記錄每一個(gè)位置上的第一組讀數(shù)。但是如果測(cè)到的幅值比背景干擾水平高出10dB,本身幅值大于20dB，就應(yīng)該連續(xù)記錄三組讀數(shù)。

    3超聲波測(cè)量程序

    開(kāi)啟局部放電檢測(cè)儀器，并從菜單中選擇（超聲波模式）插入提供的耳機(jī)并調(diào)整音量。讀數(shù)會(huì)在顯示屏上連續(xù)更新。

    首先測(cè)量背景噪聲并記錄，而當(dāng)讀數(shù)變得太大時(shí)，則應(yīng)該減少增益。若要檢查開(kāi)關(guān)柜，應(yīng)該將超聲波傳感器指向開(kāi)關(guān)柜（尤其是斷路器的端口、充氣式電纜盒、電壓互感器以及母排室）上的空氣間隙。

    放電可以根據(jù)耳機(jī)中發(fā)出的咝咝聲（尤如煎鍋中發(fā)出的聲）來(lái)識(shí)別。

    超聲波裝有激光瞄準(zhǔn)功能，可以檢測(cè)近處或遠(yuǎn)處的表面放電。該反射器是透明的，允許在看目標(biāo)的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。為了有助于精確地瞄準(zhǔn)目標(biāo)。

    局部放電檢測(cè)儀放電幅值（PC）與TEV放電讀數(shù)（dB）的關(guān)系

    傳統(tǒng)的按照IEC60270標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的局部放電檢測(cè)都是測(cè)量放電時(shí)高壓導(dǎo)體產(chǎn)生的視在電荷量。因此，放電幅值一般是以皮庫(kù)（pC）來(lái)表示。在傳統(tǒng)的局部放電檢測(cè)儀的檢測(cè)頻率（一般為10-300kHz）上，各種高壓儀器（除長(zhǎng)電纜外）都可以等效為集中電容。

    TEV測(cè)量則是在3-100MHz的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行。在這些頻率上，高壓電力儀器更近似傳輸線(xiàn)而不是電容器。電壓/時(shí)間曲線(xiàn)下方的區(qū)域面積與放電過(guò)程中的電荷轉(zhuǎn)移量成正比。

    TEV傳感器測(cè)量被測(cè)瞬態(tài)過(guò)程的峰值電壓，而不是曲線(xiàn)下方的區(qū)域面積。因此，它不是直接測(cè)量電荷。

    另外，所測(cè)量的是在金屬面板外表面上檢測(cè)到的波峰,這只是面板內(nèi)部信號(hào)的一部分而已。

    當(dāng)脈沖沿著金屬鎧裝的外表面?zhèn)鞑r(shí)，它就會(huì)散開(kāi)即在時(shí)域上展開(kāi)。同時(shí)曲線(xiàn)下方的區(qū)域面積又保持不變，這樣脈沖幅值就會(huì)減小。因此，脈沖被檢測(cè)到的地方離放電源越遠(yuǎn)，則衰減就越大。

    顯然，dB和pC之間的關(guān)系取決于多種因素，其中大多數(shù)都是不可量化的。