Optris歐普士測(cè)量驗(yàn)證電子設(shè)計(jì)新方法
測(cè)試設(shè)備中的可靠性挑戰(zhàn):正在調(diào)查過(guò)熱的 PCB 元件
一家電子測(cè)試設(shè)備制造商的波形分析儀出現(xiàn)可靠性問(wèn)題,懷疑是機(jī)箱內(nèi)一塊印刷電路板 (PCB) 上的元件過(guò)熱導(dǎo)致的。對(duì)可疑電路板上的所有電子元件進(jìn)行了全面研究,以確定它們的最高工作溫度。然后將電路板安裝在測(cè)試臺(tái)上,并通電以復(fù)制處理器密集型使用期間的條件。使用接觸式溫度計(jì)測(cè)量關(guān)鍵元件,以確定是否有任何元件的工作溫度超過(guò)其最高溫度。雖然所有元件都在其規(guī)定限度內(nèi),但發(fā)現(xiàn)有幾個(gè)元件的工作溫度接近其最高溫度。
使用熱電偶對(duì)非常小的結(jié)構(gòu)(例如表面貼裝設(shè)備 (SMD))進(jìn)行溫度測(cè)量的問(wèn)題在于,它們需要準(zhǔn)確反映電子設(shè)備的真實(shí)溫度。對(duì)于小型 PCB 元件,熱質(zhì)量非常小。與這些小型 SMD 元件相比,熱電偶具有足夠的熱容量來(lái)影響測(cè)試時(shí)元件的溫度。熱電偶及其接線會(huì)將熱量從電子元件中吸走,導(dǎo)致溫度讀數(shù)低于沒(méi)有熱電偶的 SMD 元件的實(shí)際溫度。因此,這會(huì)導(dǎo)致在靜態(tài)條件下測(cè)量較小的溫度幅度和不準(zhǔn)確的熱動(dòng)力學(xué)讀數(shù)。
結(jié)論是,在設(shè)備底盤(pán)內(nèi)進(jìn)行溫度測(cè)試是必要的,以考慮封閉外殼內(nèi)的內(nèi)部溫度對(duì)組件溫度的影響。由于設(shè)備外殼可能造成視線障礙,遠(yuǎn)程溫度測(cè)量被認(rèn)為具有挑戰(zhàn)性。
利用紅外技術(shù)優(yōu)化電子外殼的溫度測(cè)量
一般來(lái)說(shuō),電子元件和組件的熱成像檢查是一種既定的故障檢測(cè)和質(zhì)量管理測(cè)試程序,從開(kāi)發(fā)初始原型到批量生產(chǎn)。這種方法可以檢測(cè)各種問(wèn)題,例如印刷電路板、集成電路和多芯片模塊表面上的熱點(diǎn)和異常溫度分布。它將識(shí)別異常接觸電阻的增加、接頭中的隱藏裂縫、由于射頻不匹配而導(dǎo)致的功率損耗、散熱器的熱連接不正確、短路以及焊接缺陷,例如冷焊點(diǎn)。
在此應(yīng)用中,紅外熱像儀與紅外透射材料一起使用,準(zhǔn)確評(píng)估所有關(guān)鍵電路板組件的溫度,同時(shí)復(fù)制設(shè)備外殼(底盤(pán))內(nèi)的典型操作環(huán)境。頂蓋部分被移除并用幾種紅外透射材料進(jìn)行測(cè)試,首先是保鮮膜。保鮮膜在紅外區(qū)域具有高度的透射性,衰減不到 10% 的信號(hào)。然而,當(dāng)儀表風(fēng)扇啟動(dòng)時(shí),它會(huì)顫動(dòng),其耐用性會(huì)帶來(lái)一些問(wèn)題。硒化鋅因其耐用性和可進(jìn)行目視觀察的能力而被認(rèn)為是最佳解決方案。但是,一個(gè)足夠大的窗口來(lái)覆蓋整個(gè) PC 板的成本卻高得令人望而卻步。氟化鈣紅外窗口通常用于電氣開(kāi)關(guān)設(shè)備紅外測(cè)試,是最佳解決方案。雖然它們的紅外傳輸率低于硒化鋅,但這在進(jìn)行精確測(cè)量時(shí)是可以考慮的。紅外窗口的金屬外殼使其易于安裝到金屬外殼中,而且它們的價(jià)格低廉,可以使用多個(gè)窗口來(lái)收集所有關(guān)鍵組件的數(shù)據(jù)。由于兩個(gè)設(shè)備的安裝位置靠近其他發(fā)熱設(shè)備,并且氣流不足以散發(fā)熱設(shè)備的熱量,因此立即確定兩個(gè)設(shè)備的工作溫度過(guò)高。
紅外熱像儀在測(cè)量熱電子元件方面優(yōu)于接觸式熱電偶
Optris Xi 400 體積小巧,易于安裝在位于放置紅外窗口的設(shè)備底盤(pán)上方和下方的導(dǎo)軌系統(tǒng)上。它的角度可以?xún)?yōu)化重要組件的視線。PIX Connect 軟件可以輕松設(shè)置點(diǎn)或小區(qū)域來(lái)測(cè)量封閉區(qū)域內(nèi)最熱的像素,并且不受可跟蹤組件數(shù)量的限制。時(shí)間與溫度數(shù)據(jù)易于收集并存儲(chǔ)在 CSV 文件中以供以后研究和分析。軟件中的“熱點(diǎn)”工具可用于識(shí)別電路板上最熱的位置。
測(cè)量和計(jì)算通過(guò)窗口的紅外傳輸對(duì)于精確的溫度測(cè)量至關(guān)重要,PIX Connect 中的透射率設(shè)置可以通過(guò)將沒(méi)有窗口的目標(biāo)溫度與有紅外窗口的目標(biāo)溫度進(jìn)行比較,調(diào)整傳輸系數(shù)直到溫度匹配,從而輕松測(cè)量傳輸。還確定將接觸式熱電偶放置在小型設(shè)備上可以通過(guò)將熱量傳導(dǎo)出去來(lái)降低設(shè)備的溫度,從而使紅外熱像儀的測(cè)量結(jié)果比使用熱電偶的測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確。對(duì)陶瓷和所有聚合物基材料的測(cè)量都是準(zhǔn)確的,但需要在金屬罐上涂抹炭黑以提高表面發(fā)射率。
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