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高溫光譜發(fā)射率測量裝置在航天熱防護材料中的實驗應(yīng)用研究

來源:上海明策電子科技有限公司   2025年07月14日 13:27  

高溫光譜發(fā)射率表征新裝置在航天熱防護材料中的實驗應(yīng)用研究

——以ISiComp®陶瓷基復(fù)合材料為例


一、研究背景與目的

隨著可重復(fù)使用航天器技術(shù)的發(fā)展,熱防護系統(tǒng)(Thermal Protection System, TPS)材料在大氣層再入過程中的熱管理能力日益受到關(guān)注。光譜發(fā)射率(ε)作為決定材料輻射散熱能力的核心熱物性參數(shù),直接影響TPS的熱響應(yīng)特性與測溫手段的精度,特別是在采用雙色輻射測溫法(Dual-color Pyrometry)等非接觸溫度監(jiān)測技術(shù)中更是關(guān)鍵變量。

為應(yīng)對高溫、復(fù)雜輻射環(huán)境下TPS材料發(fā)射率測試的技術(shù)挑戰(zhàn),本文提出并驗證了一種新型實驗裝置,旨在對由意大利CIRA航天研究中心和PETROCERAMICS聯(lián)合開發(fā)的陶瓷基復(fù)合材料ISiComp®(碳纖維增強SiC基體)進行多波段、多溫區(qū)的高溫光譜發(fā)射率表征,填補現(xiàn)有測試手段在寬光譜精確測量方面的空白。

二、創(chuàng)新實驗裝置設(shè)計

本研究采用了一種集成式測量系統(tǒng),兼顧精度與光譜覆蓋,突破了傳統(tǒng)單設(shè)備測溫在復(fù)雜場景下的局限。核心組成包括:

  • 參考溫度基準:K型熱電偶(溫度范圍:-200–1100°C,精度:±0.0075T),嵌入樣品內(nèi)側(cè),實現(xiàn)內(nèi)部溫度測量。

  • 多光譜測溫設(shè)備

    • IMPAC IGAR-12LO 雙波長高溫計(1.52 μm & 1.64 μm)

    •  紅外熱像儀:分別加裝藍寶石濾光片(2.10 μm)與NB2097濾光片(3.97 μm)

    • 微測輻射相機:覆蓋7.5–14 μm長波紅外區(qū)

  • 樣品配置:測試樣品為直徑12.7 mm、厚度4 mm的圓柱體ISiComp®材料,分為SiC涂層與未涂層兩類,分別進行兩輪升溫測試(450°C → 850°C)。

此多設(shè)備協(xié)同的布置,在實驗室環(huán)境中實現(xiàn)了1.52 μm至14 μm范圍內(nèi)的連續(xù)發(fā)射率測量。


三、關(guān)鍵測量方法與理論支撐

1. 溫度基準選擇與熱梯度驗證

由于熱電偶測量點位于樣品內(nèi)側(cè),為確保其溫度可代表表面輻射溫度,研究采用能量平衡模型對樣品厚度方向的熱梯度進行迭代計算,綜合考慮導(dǎo)熱、對流與輻射熱通量。結(jié)果表明熱梯度小于1 K,熱電偶溫度可視為準確的參考溫度(T_tc),用于發(fā)射率計算。

2. 發(fā)射率求解策略

  • 熱像儀采用“試錯法”(Trial-and-error):通過調(diào)節(jié)熱像儀軟件中的材料發(fā)射率參數(shù),直至圖像中選定ROI的平均溫度與熱電偶一致,反推出正確發(fā)射率。

  • 雙色高溫計基于如下修正公式計算:

    ?exp=?sc(TtcTsc)N

    其中Ttc為熱電偶溫度,Tsc為儀器單波段測溫值,N為設(shè)備標定常數(shù),考慮波長與探測靈敏度相關(guān)。

此方法確保不同設(shè)備間的測量互為驗證,實現(xiàn)了高溫多波段精確發(fā)射率獲取。

四、實驗結(jié)果與分析

1. 發(fā)射率特性

  • 所有測試樣品在1.52–14 μm波段和450–850°C溫區(qū)內(nèi)均表現(xiàn)出高發(fā)射率特性(ε ≈ 0.80–0.98);

  • 未涂層樣品的發(fā)射率略高于涂層樣品,尤其在高溫條件下(如850°C,未涂層 ε ≈ 0.94,涂層 ε ≈ 0.91);

  • 在450°C時,2.1 μm波段出現(xiàn)發(fā)射率尖峰(ε ≈ 0.99),需分段建模處理。

2. 光譜擬合模型

  • 450°C階段(1.52–2.1 μm):發(fā)射率隨波長變化呈線性關(guān)系,R2 > 0.97;

  • 其他溫度與波段:呈指數(shù)衰減關(guān)系,擬合方程 y = a - b·c^λ,R2 > 0.94;

  • 同一材料在不同加熱循環(huán)中表現(xiàn)出高度一致性,驗證了材料熱穩(wěn)定性與可重復(fù)使用性。

五、結(jié)論與應(yīng)用前景

1. 技術(shù)貢獻

本研究提出并驗證了一個基于多光譜同步采集+熱參考迭代修正的高溫發(fā)射率表征方法,具備如下特點:

  • 覆蓋寬波段(1.5–14 μm);

  • 支持高溫測量(至850°C及以上);

  • 可用于多種熱敏材料的非接觸表征;

  • 適配當(dāng)前航天輻射測溫需求。

2. 材料應(yīng)用價值

測試結(jié)果表明ISiComp®具有**高發(fā)射率、熱穩(wěn)定性強、適配雙色測溫條件(灰體假設(shè)近似成立)**等優(yōu)點,適合用作ESA“Space Rider”航天器的再入熱防護材料。

3. 后續(xù)研究方向

  • 在CIRA的**Scirocco等離子體風(fēng)洞(PWT)**中模擬真實再入環(huán)境,進一步驗證其性能;

  • 利用CIRCE加速器進行碳離子注入,研究可調(diào)發(fā)射率材料在高溫輻射場(T ≤ 1500°C)中的行為,為未來TPS材料的設(shè)計與校準提供參考。

六、技術(shù)擴展與理論意義

雙色輻射測溫技術(shù)雖具有快速、非接觸等優(yōu)點,但其依賴“灰體假設(shè)”(即兩個波長下的發(fā)射率近似相等)。本研究通過測試證實ISiComp®為典型的“準灰體材料”,彌補了低發(fā)射率材料(如金屬基材料)因光譜劇烈變化導(dǎo)致測溫誤差大的問題,為雙色測溫在航天熱試驗中的工程應(yīng)用提供材料保障。


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