在半導(dǎo)體材料、量子器件、超導(dǎo)物理等前沿研究領(lǐng)域，極低溫環(huán)境（如液氦溫區(qū)4.2K）下的精密測(cè)量至關(guān)重要。

然而，傳統(tǒng)依賴(lài)液氦的低溫系統(tǒng)不僅成本高昂、操作繁瑣，資源獲取也日益困難。如何突破瓶頸，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、高效、精準(zhǔn)的低溫測(cè)量？HCP系列閉循環(huán)低溫探針臺(tái)應(yīng)運(yùn)而生，為您開(kāi)啟免液氦的低溫測(cè)試。

核心優(yōu)勢(shì)與設(shè)計(jì)亮點(diǎn)

HCP系列的革命性突破在于其“閉循環(huán)”制冷技術(shù)。它摒棄了對(duì)外部液氦供應(yīng)的依賴(lài)，通過(guò)內(nèi)置高效制冷機(jī)直接將樣品臺(tái)冷卻至液氦溫度。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

• 零液氦消耗： 大幅降低長(zhǎng)期運(yùn)行成本，消除液氦供應(yīng)不穩(wěn)定帶來(lái)的困擾。

• 操作便捷： 開(kāi)機(jī)即可降溫，無(wú)需復(fù)雜的液氦灌注和維護(hù)流程，顯著提升實(shí)驗(yàn)效率。

• 穩(wěn)定可靠： 系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定，溫度控制精準(zhǔn)，為長(zhǎng)時(shí)間、重復(fù)性實(shí)驗(yàn)提供堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

• 環(huán)境友好： 減少對(duì)稀缺資源液氦的消耗，更具可持續(xù)性。

詳細(xì)參數(shù)：

靈活樣品兼容：

HCP-0-2/4 型號(hào)： 支持 Φ2英寸 (50mm) 和 Φ4英寸 (100mm) 大尺寸樣品，滿(mǎn)足晶圓級(jí)測(cè)試需求。

HCP-C-2/4 型號(hào)： 專(zhuān)注于 Φ1英寸 (25mm) 和 Φ2英寸 (50mm) 樣品，適用于芯片、小尺寸器件研究。

高分辨率顯微觀察：

標(biāo)配180X/500X/1000X高倍率光學(xué)顯微鏡，提供清晰樣品表面觀察能力，精確定位。

真空環(huán)境與精密探針臂：

真空環(huán)境隔絕熱交換和污染，確保穩(wěn)定性。

配備樣品座架緊螺釘和三位一體熱沉技術(shù)，保證探針與樣品接觸穩(wěn)定可靠。

超寬頻率范圍：

支持從直流 (DC) 到 1100 GHz 高頻測(cè)量，覆蓋從靜態(tài)特性到太赫茲頻段的廣闊研究需求。

大功率測(cè)量能力：

耐受高達(dá) 10 kV / 1500 A 的電壓電流，滿(mǎn)足功率器件、高壓器件的測(cè)試挑戰(zhàn)。

光電聯(lián)合測(cè)試能力：

光波測(cè)量范圍覆蓋紫外 (UV)、可見(jiàn)光 (Visible)、紅外 (IR) 波段，為光電器件在低溫下的光電特性研究提供支持。

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體物理與器件：

低溫載流子輸運(yùn)、量子阱/點(diǎn)特性、新型半導(dǎo)體材料表征。

量子計(jì)算與信息：

超導(dǎo)量子比特(Qubit)、半導(dǎo)體自旋量子比特的測(cè)試與表征。

超導(dǎo)材料與器件：

超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度、臨界電流、約瑟夫森結(jié)特性研究。

低溫電子學(xué)：

低溫放大器、探測(cè)器性能評(píng)估。

光電子學(xué)：

低溫光電探測(cè)器、LED、激光器性能測(cè)試。