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關(guān)于進(jìn)口工業(yè)顯微鏡的那些事，一起來(lái)了解下吧
進(jìn)口工業(yè)顯微鏡是一種用于觀察和分析微小物體或結(jié)構(gòu)的精密儀器，其工作原理基于光學(xué)或電子光學(xué)原理，將不可見(jiàn)或難以直接觀察的微觀世界放大并呈現(xiàn)清晰的圖像。
(一)光學(xué)進(jìn)口工業(yè)顯微鏡
1.照明系統(tǒng)：通常采用柯勒照明方式。光源發(fā)出的光線經(jīng)過(guò)聚光鏡均勻地照亮被觀察的物體。聚光鏡的作用是調(diào)節(jié)光線的角度和強(qiáng)度，使光線以合適的角度照射到物體上，保證物體各部分都能得到均勻且充足的照明。
2.物鏡成像：物鏡是光學(xué)顯微鏡的關(guān)鍵部件之一。它靠近被觀察物體，具有較短的焦距和較高的放大倍數(shù)。物鏡將物體進(jìn)行第一次放大，形成一個(gè)倒立的實(shí)像。這個(gè)實(shí)像位于目鏡的焦點(diǎn)內(nèi)側(cè)。物鏡的質(zhì)量和性能對(duì)成像的清晰度、分辨率等有著至關(guān)重要的影響。例如，高分辨率的物鏡能夠分辨出更小的物體細(xì)節(jié)。
3.目鏡觀察：目鏡的作用是對(duì)物鏡所成的像進(jìn)行進(jìn)一步的放大。目鏡內(nèi)部有一個(gè)或多個(gè)透鏡組合，它將物鏡形成的實(shí)像再次放大，并且會(huì)校正物鏡成像過(guò)程中可能產(chǎn)生的像差。
(二)電子進(jìn)口工業(yè)顯微鏡
1.透射電子顯微鏡(TEM)
-電子束發(fā)射：由電子槍發(fā)射出高速電子束。電子槍一般有熱陰極發(fā)射型和場(chǎng)發(fā)射型兩種。熱陰極發(fā)射型是通過(guò)加熱鎢絲等材料使其發(fā)射電子，而場(chǎng)發(fā)射型則是利用強(qiáng)電場(chǎng)從尖銳的發(fā)射體表面提取電子。這些電子具有很高的能量。
-樣品相互作用：高速電子束穿過(guò)超薄的樣品(通常樣品厚度在納米級(jí)別)。在穿過(guò)樣品的過(guò)程中，電子與樣品中的原子發(fā)生碰撞，由于樣品不同部位的原子密度、原子序數(shù)等不同，對(duì)電子的散射程度也不同。這種散射會(huì)導(dǎo)致電子束強(qiáng)度和相位的變化，從而攜帶了樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。
-成像系統(tǒng)：經(jīng)過(guò)樣品后的電子束通過(guò)電磁透鏡系統(tǒng)進(jìn)行聚焦和成像。電磁透鏡利用電流通過(guò)線圈產(chǎn)生的磁場(chǎng)來(lái)對(duì)電子束進(jìn)行折射，其原理類似于光學(xué)透鏡對(duì)光線的折射，但控制更加靈活。通過(guò)調(diào)整電磁透鏡的電流，可以改變透鏡的焦距和聚焦效果，在熒光屏或照相底片上形成反映樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像。
2.掃描電子顯微鏡(SEM)
-電子束掃描：電子槍發(fā)射出的電子束在掃描線圈的作用下，對(duì)樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。電子束斑很小，通常可以聚焦到幾個(gè)納米的尺寸。
-信號(hào)收集：當(dāng)電子束照射到樣品表面時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品產(chǎn)生各種信號(hào)，如二次電子、背散射電子等。二次電子是樣品表面的原子被電子束激發(fā)后逸出的低能電子，它能很好地反映樣品表面的形貌特征。背散射電子則是入射電子與樣品原子發(fā)生彈性散射后返回的電子，其產(chǎn)額與樣品的原子序數(shù)有關(guān)，可用于分析樣品的成分分布。這些信號(hào)被相應(yīng)的探測(cè)器收集。
-成像顯示：探測(cè)器收集到的信號(hào)經(jīng)過(guò)放大和處理后，按照電子束掃描的順序在顯示器上形成圖像。通過(guò)調(diào)節(jié)電子束的參數(shù)和探測(cè)器的接收方式，可以獲得不同對(duì)比度和信息的圖像，用于研究樣品的表面形貌、成分等。
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