1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理論在時(shí)( d為散射粒子的直徑,λ為光波波長(zhǎng))的近似式 ——夫瑯和費(fèi)(Franhofer)衍射理論發(fā)展了激光粒度儀,開辟了散射理論在計(jì)量測(cè)試中的又一新領(lǐng)域。由于光散射法適用范圍寬,測(cè)量時(shí)不受顆粒光學(xué)特性及電學(xué)特性參數(shù)的影響,因此在隨后的三十年時(shí)間內(nèi)已成為粒度計(jì)量中zui為重要的方式之一。
激光粒度儀的工作原理
當(dāng)光線通過不均勻介質(zhì)時(shí),會(huì)發(fā)生偏離其直線傳播方向的散射現(xiàn)象,它是由吸收、反射、折射、透射和衍射的共同作用引起的。散射光形式中包含有散射體大小、形狀、結(jié)構(gòu)以及成分、組成和濃度等信息。因此,利用光散射技術(shù)可以測(cè)量顆粒群的濃度分布與折射率大小,還可以測(cè)量顆粒群的尺寸分布。
由激光器(一般為He-Ne激光器或半導(dǎo)體激光器)發(fā)出的光束。經(jīng)空間濾波器和擴(kuò)束透鏡后,得到了一個(gè)平行單色光束,該光束照射到由分散系統(tǒng)傳輸過來的顆粒樣品后發(fā)生散射現(xiàn)象。研究表明,散射光的角度和顆粒直徑成反比,散射光強(qiáng)隨角度的增加呈對(duì)數(shù)衰減。這些散射光經(jīng)傅立葉透鏡后成像在排列有多環(huán)光電探測(cè)器的焦平面上。多環(huán)探測(cè)器上的中央探測(cè)器用來測(cè)定樣品的體積濃度,外圍探測(cè)器用來接收散射光的能量并轉(zhuǎn)換成電信號(hào),而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關(guān)。通過接收和測(cè)量散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。
激光粒度儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)技術(shù),具有測(cè)量速度快、動(dòng)態(tài)范圍大、操作簡(jiǎn)便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn),現(xiàn)已成為*zui流行的粒度測(cè)試儀器。
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