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ABR-1000基板玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀說明書

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    2025年07月11日
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基板玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀,基板玻璃應(yīng)力儀,雙折射基板玻璃應(yīng)力儀,ABR-1000
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深圳市田野儀器有限公司
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資料簡介

基板玻璃作為顯示面板、光伏玻璃等領(lǐng)域的核心材料,其內(nèi)部應(yīng)力狀況對產(chǎn)品性能影響極大。過大的內(nèi)應(yīng)力會導(dǎo)致玻璃在加工、使用過程中出現(xiàn)碎裂、變形等問題,嚴重影響產(chǎn)品質(zhì)量和使用壽命。基板玻璃雙折射內(nèi)應(yīng)力測試儀專為精準檢測基板玻璃內(nèi)部應(yīng)力而設(shè)計,借助對雙折射現(xiàn)象的分析,為基板玻璃的生產(chǎn)、質(zhì)量管控和研發(fā)提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。

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ABR-1000基板玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀

工作原理

該測試儀基于光的雙折射效應(yīng)和應(yīng)力光學定律。當線偏振光穿過存在內(nèi)應(yīng)力的基板玻璃時,由于玻璃分子在應(yīng)力作用下發(fā)生定向排列,會使入射的線偏振光分解為兩束振動方向相互垂直的線偏振光,這兩束光在玻璃中的傳播速度不同,從而產(chǎn)生光程差,即雙折射現(xiàn)象。

測試儀通過特定的光學系統(tǒng)產(chǎn)生穩(wěn)定的線偏振光,照射到基板玻璃樣品上。隨后,利用高靈敏度的探測器捕捉經(jīng)過玻璃后的偏振光狀態(tài)變化,獲取雙折射信息。再根據(jù)應(yīng)力光學定律,即雙折射光程差與應(yīng)力大小成正比,通過內(nèi)置的精密算法對雙折射數(shù)據(jù)進行處理和計算,最終得到基板玻璃內(nèi)部的應(yīng)力分布情況,包括應(yīng)力的大小、方向和分布均勻性等關(guān)鍵參數(shù)。

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ABR-1000基板玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀

三、儀器結(jié)構(gòu)與功能參數(shù)

光學系統(tǒng):配備高穩(wěn)定性的光源,如連續(xù)輸出的氦氖激光器或高亮度 LED 光源,確保入射光的強度和偏振狀態(tài)穩(wěn)定。采用高精度偏振片、波片等光學元件,精確控制光的偏振狀態(tài),提高雙折射檢測的靈敏度。搭載高分辨率成像系統(tǒng),像素可達 2000 萬以上,能夠清晰記錄玻璃內(nèi)部雙折射產(chǎn)生的干涉條紋或相位變化,為應(yīng)力計算提供高質(zhì)量的原始圖像數(shù)據(jù)。

樣品承載與調(diào)整系統(tǒng):設(shè)計精密的樣品臺,可實現(xiàn)對基板玻璃樣品在 X、Y、Z 三個方向的微調(diào),保證樣品處于最佳檢測位置。樣品臺還具備旋轉(zhuǎn)功能,能夠調(diào)整樣品的角度,以便檢測不同方向上的應(yīng)力情況。同時,樣品臺采用設(shè)計,減少外界振動對檢測結(jié)果的干擾。

數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng):通過高速數(shù)據(jù)采集卡,實時采集光學系統(tǒng)輸出的圖像和光強信號,確保數(shù)據(jù)的完整性和及時性。配備專業(yè)的數(shù)據(jù)分析軟件,能夠?qū)Σ杉降碾p折射數(shù)據(jù)進行快速處理,包括圖像降噪、干涉條紋分析、應(yīng)力計算等。軟件還支持多種數(shù)據(jù)可視化方式,如應(yīng)力分布彩色云圖、應(yīng)力曲線等,直觀展示基板玻璃內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài)。

自動化控制系統(tǒng):集成自動化控制模塊,可實現(xiàn)檢測過程的自動化操作。通過預(yù)設(shè)檢測程序,儀器能夠自動完成樣品的定位、光學校準、數(shù)據(jù)采集和分析等一系列流程,減少人為操作帶來的誤差,提高檢測效率。同時,系統(tǒng)支持與外部自動化生產(chǎn)線對接,實現(xiàn)基板玻璃的在線檢測。

ABR-1000 系列裝置能夠以 0.01nm  的線性解析度來測量被檢樣品的雙折射系數(shù)。雙折射作為光學相位 差被檢測,可同時測量樣品的雙折射主軸和延遲軸兩個方向,

由于通過雙折射測量可以有效地對光學材料的內(nèi)部應(yīng)力(失真)及聚合物膜的取向特性進行評估,因此, 雙折射測量被廣泛應(yīng)用于材料研究部門以及制造過程中的質(zhì)量管理。由于配備了標準的用戶友好應(yīng)用程序軟    件,因此無需具備專業(yè)知識,任何人都可以很容易地進行操作。

l 主要特點

◎      高速測量:                        0.1 秒鐘/測量點(同時測量相位延遲和方位角)

◎      高線性解析度:                  雙折射相位差重復(fù)精度:±0.01 nm

主軸方位角重復(fù)精度:±0.2 º

◎      高精度,廣域動態(tài)范圍:   激光外差法

◎      測量位置確認:                  可以通過目測來確認測量位置

◎      操作簡單:                         由用戶友好式的操作畫面和顯示畫面組成

◎      適合質(zhì)量管理

用途/應(yīng)用實例 液晶

? 液晶元件:

? 相位差薄膜:

◎  半導(dǎo)體

? 透鏡、襯底:

◎  光盤

? CD、DVD  用透明襯底:

? 光頭用部件:

◎  其他

?  大型玻璃塊

? 各種塑料透鏡:

? 各種光纖預(yù)制棒:

液晶的取向特性評估

高分子的取向特性評估

殘余雙折射評估等

殘余雙折射評估雙折射評估( 1/4 波片、偏振光束分光器、透鏡等)

殘余雙折射與取向評估

殘余雙折射與取向評估

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ABR-1000基板玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀

 

四、優(yōu)勢特點

高檢測精度:采用先進的光學系統(tǒng)和精密算法,能夠檢測出基板玻璃內(nèi)部微小的應(yīng)力變化,應(yīng)力測量精度可達 ±1MPa,滿足高精度基板玻璃的檢測需求??梢詼蚀_識別出應(yīng)力分布不均勻、局部應(yīng)力過高等潛在質(zhì)量問題,為生產(chǎn)工藝優(yōu)化提供精準依據(jù)。

全面的應(yīng)力信息獲?。翰粌H能夠測量基板玻璃的表面應(yīng)力,還能深入檢測內(nèi)部應(yīng)力分布情況,獲取三維空間內(nèi)的應(yīng)力數(shù)據(jù)。相比傳統(tǒng)的僅能檢測表面應(yīng)力的儀器,能更全面地反映基板玻璃的應(yīng)力狀態(tài),為評估玻璃的整體質(zhì)量提供更可靠的信息。

高效自動化檢測:自動化控制系統(tǒng)的應(yīng)用,使得檢測過程無需人工干預(yù),大幅提高了檢測效率。對于大尺寸基板玻璃,可實現(xiàn)快速掃描檢測,單塊玻璃的檢測時間可控制在幾分鐘內(nèi),滿足生產(chǎn)線的快速檢測需求。

良好的適應(yīng)性:能夠適應(yīng)不同規(guī)格、不同厚度的基板玻璃檢測,無論是超薄的顯示面板基板玻璃,還是較厚的光伏基板玻璃,都能進行準確檢測。同時,儀器對環(huán)境條件的適應(yīng)性較強,在一定范圍內(nèi)的溫度、濕度變化下,仍能保持穩(wěn)定的檢測性能。

五、應(yīng)用場景

基板玻璃生產(chǎn)過程管控:在基板玻璃的生產(chǎn)線上,該測試儀可實時對生產(chǎn)出的玻璃進行內(nèi)應(yīng)力檢測。及時發(fā)現(xiàn)因原料配比、成型工藝、退火過程等因素導(dǎo)致的應(yīng)力異常,便于生產(chǎn)人員及時調(diào)整工藝參數(shù),減少不合格產(chǎn)品的產(chǎn)生,提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

顯示面板行業(yè):在顯示面板的制造過程中,基板玻璃的內(nèi)應(yīng)力會影響面板的顯示效果和使用壽命。通過該測試儀對基板玻璃進行嚴格檢測,確保所用玻璃的應(yīng)力符合生產(chǎn)要求,避免因玻璃應(yīng)力問題導(dǎo)致顯示面板出現(xiàn)殘影、漏光、碎裂等故障。

光伏玻璃領(lǐng)域:光伏玻璃需要具備良好的透光性和機械強度,內(nèi)應(yīng)力是影響其性能的重要因素。利用該測試儀檢測光伏基板玻璃的內(nèi)應(yīng)力,可保證玻璃在長期使用過程中不易因應(yīng)力作用而損壞,提高光伏組件的可靠性和使用壽命。

科研與開發(fā):在基板玻璃的新材料研發(fā)和新工藝探索中,該測試儀可用于研究不同材料配方、生產(chǎn)工藝對玻璃內(nèi)應(yīng)力的影響。通過對比分析不同樣品的應(yīng)力數(shù)據(jù),為開發(fā)高性能、低應(yīng)力的基板玻璃提供實驗依據(jù),推動基板玻璃技術(shù)的創(chuàng)新發(fā)展。

基板玻璃雙折射內(nèi)應(yīng)力測試儀憑借其高精度、全面性、高效性等優(yōu)勢,在基板玻璃的生產(chǎn)、質(zhì)量控制和研發(fā)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用,為提高基板玻璃產(chǎn)品質(zhì)量、推動相關(guān)行業(yè)技術(shù)進步提供了有力的技術(shù)支持。

ABR-1000基板玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀

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