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2021
12-03

什么行業(yè)可以使用環(huán)境掃描電鏡？它能在你的行業(yè)中使用嗎？
環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構，試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。環(huán)境掃描電鏡的應用范圍：1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析。2、各種材料微區(qū)化學成分的定量檢測。3、粉末、微粒、納米樣品形態(tài)觀察和粒度
2021
12-03

看看這些內容，這是你想了解的STEM透射電鏡嗎？
STEM透射電鏡是怎么來的？掃描電子顯微鏡已成為表征物質微觀結構*的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質發(fā)生相互作用，可產(chǎn)生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關物質表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結構信息，特征X-射線得到物質化學成分的信息，這些得到的都是接近樣品表面的信息。在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時，會有一部分電子透過樣品，這一部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。STEM透射電鏡透射電子像的
2021
12-03

看看這篇文章，了解一下掃描電子顯微鏡！
掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。廣泛用于生物學、醫(yī)學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。掃描電子顯微鏡是以能量為1-30kV間的電子束，以光柵狀掃描方式照射到被分析試樣的表面上，利用入射電子和試樣表面物質相互作用所產(chǎn)生的二次電子和背散射電子成像，獲得試樣表面微觀組
2021
12-03

FIB雙束掃描電鏡是什么？他又有那些用途？
隨著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發(fā)展，器件及電路結構越來越復雜，這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB雙束掃描電鏡所具備的強大的精細加工和微觀分析功能，使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。FIB雙束掃描電鏡是指同時具有聚焦離子束(FocusedIonBeam，F(xiàn)IB)和掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)功能的儀器。它可以實現(xiàn)SEM實時觀測FIB微加工過程的功能，把電子束高空間分辨率和離子束精細加工的優(yōu)勢集于一身。其中，
2021
12-03

環(huán)掃電鏡常見分類和應用領域
環(huán)掃電鏡是一種掃描電子顯微鏡，利用聚焦電子束掃描樣品的表面來產(chǎn)生樣品表面的圖像。最常見的掃描電鏡模式是檢測由電子束激發(fā)的原子發(fā)射的二次電子?？梢詸z測的二次電子的數(shù)量，取決于樣品測繪學形貌。環(huán)掃電鏡常見分類：1.分析掃描電鏡:掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS后發(fā)展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進行定性和無標樣定量分析。2.場發(fā)射槍掃描電鏡：場發(fā)射掃描電鏡得到了很大的發(fā)展，不僅提高了常規(guī)加速電壓時的分辨本領，還顯著改善了低壓性能。3.低壓掃描電鏡：低壓掃描電鏡LVS
2021
12-03

高分辨率掃描電鏡的檢測范圍和基本構造
高分辨率掃描電鏡是電子顯微鏡的一種，其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數(shù)進行形貌觀察，同時利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對微區(qū)的成分進行定性定量分析，是我們材料研究分析中一雙亮麗的“眼睛”。掃描電鏡按照電子槍分類可以分為鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場發(fā)射三種，場發(fā)射掃描電鏡相比于鎢燈絲、六硼化鑭，具有電子束斑小、高分辨率、穩(wěn)定性好等特點。高分辨率掃描電鏡的檢測范圍：1.金屬、陶瓷、高分子、礦物、半導體、紙張、化工產(chǎn)品的顯微形貌觀察及材料的晶體結構、相組
2021
10-11

環(huán)境掃描電子顯微鏡的工作原理和儀器特點
環(huán)境掃描電子顯微鏡工作原理：電子與樣品中的原子相互作用，產(chǎn)生包含關于樣品的表面測繪學形貌和組成的信息的各種信號。電子束通常以光柵掃描圖案掃描，并且光束的位置與檢測到的信號組合以產(chǎn)生圖像。掃描電子顯微鏡由電子槍發(fā)射出電子束，在加速電壓的作用下經(jīng)過磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號電子。這些信號電子經(jīng)探測器收集并轉換為光子，再經(jīng)過電信號放大器加以放大處理，成像在顯示系統(tǒng)上。環(huán)境掃描電子顯微鏡的儀
2021
09-08

聚焦離子束顯微鏡原來可以用于這些地方！
聚焦離子束顯微鏡的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場(Extractor)牽引端細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的顯微鏡，可以提供材料切割、沉積金屬、蝕刻金屬和選擇性蝕刻氧化層等功能。聚焦離子束顯微鏡主要應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析、TEM制樣等。1.精細切割及材料蒸鍍：利用顯微鏡可以在素玻璃上分別進行鎵離子精細切割及鎢離子鍍膜。2.截面
2021
08-24

FIB雙束電鏡是什么？有哪些功能？
隨著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發(fā)展，器件及電路結構越來越復雜，這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB雙束電鏡所具備的強大的精細加工和微觀分析功能，使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。FIB雙束電鏡系統(tǒng)是指同時具有聚焦離子束和掃描電子顯微鏡功能的系統(tǒng)，可以實現(xiàn)SEM實時觀測FIB微加工過程的功能，把電子束高空間分辨率和離子束精細加工的優(yōu)勢集于一身。其中，F(xiàn)IB是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過加速，再聚焦于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號形成電子像，或強電流離子束對樣品
2021
08-22

FIB顯微鏡的原理和作用，快來了解一下吧！
隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束(FIB)技術利用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，配合FIB顯微鏡等高倍數(shù)電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析等。FIB顯微鏡的工作原理：聚焦離子束(FIB)轟擊樣品表面，激發(fā)二次電子、中性原子、二次離子和光子等，收集這些信號，經(jīng)處理顯示樣品的表面形貌。聚焦離子束的系統(tǒng)是利用電透鏡將離
2021
08-20

TEM掃描電鏡能通過哪些信號得到被檢測樣品信息？
TEM掃描電鏡的制造是依據(jù)電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發(fā)的區(qū)域將產(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子等多種的信號，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時，也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動(聲子)、電子振蕩(等離子體)。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如：形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。TEM掃描電鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機理，采用不同的信息檢測器
2021
08-18

你知道透射電鏡是由哪幾個部分組成的嗎？
透射電鏡結構主要分為電子光學、真空系統(tǒng)和供電控制系統(tǒng)三個部分。一、透射電鏡電子光學部分：整個電子光學部分*置于鏡筒之內，自上而下順序排列著電子槍、聚光鏡、樣品室、物鏡、中間鏡、投影鏡、觀察室、熒光屏、照相機構等裝置。根據(jù)這些裝置的功能不同又可將電子光學部分分為照明系統(tǒng)、樣品室、成像系統(tǒng)及圖像觀察和記錄系統(tǒng)。1.照明系統(tǒng)：照明系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡和相應的平移對中及傾斜調節(jié)裝置組成。它的作用是為成像系統(tǒng)提供一束亮度高、相干性好的照明光源。電子槍由陰極、柵極和陽極構成。在真空中通電加熱后使從陰極發(fā)射的
2021
08-18

FEI掃描電鏡的哪些功能是我們不知道的？
FEI掃描電鏡專為細胞、細胞器、石棉、聚合物和軟材料等在環(huán)境溫度和低溫下的二維和三維成像而設計。以其可選的、可伸縮的冷凍箱和低劑量技術提高了電子束敏材料的成像質量。此外，可以在配置中添加側插式可伸縮能量色散光譜(EDS)探測器，以實現(xiàn)精確化學分析。超大間隙的C-Twin極靴提供了*的應用靈活性，再加上超高穩(wěn)定性的電子鏡筒，為高分辨率三維表征、原位動態(tài)觀察和衍射應用提供了新的機會。FEI掃描電鏡具有高對比度、高質量的TEM和stem成像，可同時檢測多種信號，并可采用四通道集成stem探測器。超穩(wěn)定
2021
08-18

sem掃描電鏡到底具有哪些優(yōu)點？
sem掃描電鏡的分析室滿足了對元素(EDX，WDS)和晶體學(EBSD)樣品數(shù)據(jù)日益增長的需求，該分析室支持多個EDX檢測器，以提高通量并消除陰影效應。此外，分析室支持共面EDX/EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術的佳定位。由于掃描電鏡的現(xiàn)場能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結果。用于光子學，地球科學，陶瓷，玻璃和故障分析應用的其他樣品信息來自*的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測器。掃描電鏡將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術相結合，可提供同類產(chǎn)品中完整的解決方案。它是需要
2021
08-09

透射電鏡系統(tǒng)是由哪些部分組成的
透射電鏡是目前材料科學領域常用的分析儀器，廣泛地應用于各個領域。透射電鏡，全稱透射電子顯微鏡，簡稱TEM，是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。TEM系統(tǒng)由以下幾部分組成：1、電子槍：發(fā)射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發(fā)射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經(jīng)陽極電壓加速后射向聚光
2021
08-02

掃描電鏡的工作原理及特點分析
掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope,簡寫為SEM）是一個復雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現(xiàn)代計算機控制技術。掃描電鏡主要是針對具有高低差較大、粗糙不平的厚塊試樣進行觀察，因而在設計上突出了景深效果，一般用來分析斷口以及未經(jīng)人工處理的自然表面。工作原理：掃描電鏡電子槍發(fā)射出來的電子束，在加速電壓的作用下，經(jīng)過電磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成一個細的電子束斑聚焦在樣品表面，末級透鏡上裝有的掃描線圈可控制電子束在樣品表面掃描，同時高能電子束作用在樣品表面會激
2021
07-26

漲知識！掃描電鏡的類型竟有如此之多
目前，已經(jīng)成功研制出的掃描電鏡包括：典型的掃描電鏡、掃描透射電鏡（STEM）?場發(fā)射掃描電鏡（FESEM）、冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM），低壓掃描電鏡(LVSEM)、環(huán)境掃描電鏡(ESEM）、掃描隧道顯微鏡（STM)、掃描探針顯微鏡(SPM)，原子力顯微鏡（AFM）等，以下介紹幾種常用的掃描電鏡。一、掃描隧道顯微鏡（STM）掃描隧道顯微鏡的工作原理是利用物理學上的隧道效應及隧道電流。隧道效應是指金屬中部分能量低于表面勢壘的自由電子能夠穿透金屬表面勢壘,形成金屬表面上的“電子云”的效應。隧道電
2021
07-23

選擇鎢燈絲掃描電鏡要考慮哪些因素？
鎢燈絲掃描電鏡是一種重要的測量分析儀器，在很多的實驗室中都離不開鎢燈絲掃描電鏡，出于到位的原理以及性能，鎢燈絲掃描電鏡的使用顯得更加的出色。對于使用者而言選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡廠家顯得很重要。那么在選購鎢燈絲掃描電鏡的過程中要留意什么因素呢?一般建議考慮以下幾點：一、特性特性是很多人關注的要素，所說的特性包含兩個要素，包含操控特性及其技術參數(shù)。首先是操控特性，在設計設備的環(huán)節(jié)中操控特性是關鍵考察的要素，考驗是設備部件相互之間的相互對接，能不能在測量的環(huán)節(jié)中更好的操控是干擾設備特性的主要因素。不
2021
07-20

場發(fā)射掃描電鏡的成像原理和基本構造
掃描電子顯微鏡因其分辨率高、景深大、圖像更富立體感、放大倍數(shù)可調范圍寬等優(yōu)點而被廣泛應用于半導體、無機非金屬材料及器件等的檢測。隨著我國經(jīng)濟的迅速發(fā)展，高校、科研單位、企業(yè)等大量引進了場發(fā)射掃描電鏡。掃描電鏡樣品必須是具有一定化學、物理穩(wěn)定性的干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末。在真空中及電子束轟擊下不會揮發(fā)或變形，無磁性、放射性和腐蝕性。場發(fā)射掃描電鏡的成像原理：來自掃描發(fā)生器的掃描信號分別送給電子光學系統(tǒng)的掃描線圈和顯像管的掃描線圈，讓電子束于顯像管的陰極射束做同步掃描，是陰極射束在熒光屏上
2021
07-19

掃描電子顯微鏡樣品如何制備？有哪些要求
掃描電子顯微鏡樣品的制備，必須滿足以下要求：①保持完好的組織和細胞形態(tài)；③充分暴露要觀察的部位；③良好的導電性和較高的二次電子產(chǎn)額；④保持充分干燥的狀態(tài)。某些含水量低且不易變形的生物材料，可以不經(jīng)固定和干燥而在較低加速電壓下直接觀察，如動物毛發(fā)、昆蟲、植物種子、花粉等，但圖象質量差，而且觀察和拍攝照片時須盡可能迅速。對大多數(shù)的生物材料，則應首先采用化學或物理方法固定、脫水和干燥，然后噴鍍碳與金屬以提高材料的導電性和二次電子產(chǎn)額?；瘜W方法制備樣品化學方法制備樣品的程序通常是：清洗、化學固定、干燥、

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