當(dāng)前位置:濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司>>技術(shù)文章展示
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2025
08-062025
07-302025
06-03動態(tài)顆粒圖像儀的結(jié)果和哪些方面有關(guān)
動態(tài)顆粒圖像儀的測量結(jié)果受多種因素影響,其核心在于儀器技術(shù)性能、樣品特性、操作條件及環(huán)境因素的綜合作用。以下從技術(shù)原理、設(shè)備性能、樣品處理、環(huán)境控制及數(shù)據(jù)處理等維度,系統(tǒng)分析動態(tài)顆粒圖像儀的影響因素:一、技術(shù)原理與設(shè)備性能1.成像系統(tǒng)性能-分辨率與采樣速度:動態(tài)顆粒圖像儀需通過高速攝像捕捉運(yùn)動顆粒的清晰圖像,要求攝像頭具備高分辨率(如像素達(dá)微米級)和高幀率(如每秒數(shù)萬幀)。若分辨率不足,可能無法區(qū)分微小顆?;蚣?xì)節(jié)形態(tài);采樣速度低則會導(dǎo)致運(yùn)動模糊或拖尾現(xiàn)象。-光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計:鏡頭的放大倍數(shù)、景深和畸2025
05-072025
04-072025
03-132025
02-172025
01-112025
01-102025
01-09動態(tài)光散射粒度儀也是需要進(jìn)行日常保養(yǎng)的
動態(tài)光散射粒度儀,也稱為動態(tài)光散射粒度分析儀是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物科學(xué)、化學(xué)工程等領(lǐng)域的先進(jìn)儀器。其工作原理主要基于顆粒在溶液或懸浮液中的布朗運(yùn)動。當(dāng)激光束照射到這些顆粒上時,顆粒會散射出光波。由于顆粒的布朗運(yùn)動是隨機(jī)的,且運(yùn)動速度與顆粒的大小和媒介粘度有關(guān),因此散射光的強(qiáng)度會隨時間發(fā)生波動。通過檢測這種光強(qiáng)波動,可以分析出顆粒的擴(kuò)散系數(shù),進(jìn)而利用Stokes-Einstein公式計算出顆粒的粒徑大小。以下是對動態(tài)光散射粒度儀日常保養(yǎng)措施的詳細(xì)介紹:1、清潔維護(hù)樣品槽清洗:每次使用后,及2024
12-19詳細(xì)探討智能激光粒度分析儀的主要結(jié)構(gòu)
智能激光粒度分析儀是一種基于激光散射原理,用于測量顆粒大小分布的精密儀器。其工作原理基于米氏散射理論。當(dāng)激光束照射到顆粒上時,顆粒會將光能散射到各個方向。散射光的強(qiáng)度與顆粒的大小、形狀、折射率以及激光波長等因素密切相關(guān)。通過測量散射光的強(qiáng)度分布,并結(jié)合顆粒的散射特性,可以推算出顆粒的粒徑大小及其分布。智能激光粒度分析儀主要由激光發(fā)射器、光學(xué)系統(tǒng)、光電探測器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。在測量過程中,激光發(fā)射器發(fā)出激光束,經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后照射到待測樣品上。樣品中的顆粒在激光束中發(fā)生散射,散射光經(jīng)過光2024
12-172024
12-132024
11-21以下是大量程激光粒度儀對其結(jié)構(gòu)的具體介紹
大量程激光粒度儀是一種基于激光散射原理的先進(jìn)儀器,用于測量和分析顆粒的大小及其分布特征。采用聚焦激光散射和衍射原理來檢測樣品的粒度。它利用激光作為光源,當(dāng)激光照射到顆粒上時,顆粒會使激光產(chǎn)生散射現(xiàn)象。通過測量散射光能的空間分布,儀器可以分析出顆粒的大小及其分布。這一原理主要基于Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論,這些理論為粒度分析提供了堅實的理論基礎(chǔ)。大量程激光粒度儀通常由發(fā)射窗口、接收窗口和測量窗口等部分組成。此外,一些高型號還可能包括會聚光傅里葉變換光路技術(shù)、多個輔助集成光電探測器2024
11-19關(guān)于大量程激光粒度儀維護(hù)保養(yǎng)的基本建議
大量程激光粒度儀是一種基于激光散射原理的先進(jìn)儀器,用于測量和分析顆粒的大小及其分布特征。采用聚焦激光散射和衍射原理來檢測樣品的粒度。它利用激光作為光源,當(dāng)激光照射到顆粒上時,顆粒會使激光產(chǎn)生散射現(xiàn)象。通過測量散射光能的空間分布,儀器可以分析出顆粒的大小及其分布。這一原理主要基于Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論,這些理論為粒度分析提供了堅實的理論基礎(chǔ)。大量程激光粒度儀通常由發(fā)射窗口、接收窗口和測量窗口等部分組成。此外,一些高型號還可能包括會聚光傅里葉變換光路技術(shù)、多個輔助集成光電探測器2024
11-182024
10-242024
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