PCBA熱成像短路探測儀 參考價：面議
這種PCBA熱成像短路探測儀是美國optotherm公司為PCBA短路探測查找定位而設計的紅外熱成像短路探測儀器,專門為電路板和電子器件失效分析而設計，使用紅外...
顯微鎖相熱成像系統(tǒng) 參考價：面議
顯微鎖相熱成像系統(tǒng)采用美國optotherm公司LOCK IN THERMOGRAPHY技術,使用用于IC芯片熱點探測的微光顯微鏡。
紅外顯微鏡 參考價：面議
這款紅外顯微鏡采用顯微熱像儀技術和共聚焦熱反射顯微鏡技術,高精度測量芯片,MEMS等微納器件溫度值和溫度分布。非常適合器件熱分析和熱測試。
微米/納米熱傳導測量系統(tǒng) 參考價：面議
微米/納米熱傳導測量系統(tǒng)采用SanjSCOPE™ 納秒瞬態(tài)熱成像儀和鎖相鎖定熱反射 (TR) 系統(tǒng)，實現(xiàn)器件納米或微米尺度傳熱成像。
VGA SWIR紅外相機 參考價：面議
VGA SWIR相機320U-S采用NIT紅外相機WiDY技術,具有防沖擊外殼,提供USB2.0或Camlink接口,專業(yè)紅外成像軟件具有非均勻性矯正,壞像素取...
X射線熒光屏-晶體 參考價：面議
X射線熒光屏-晶體是X射線熒光轉換屏,X射線轉換屏,X射線熒光屏,閃爍體轉換屏,采用閃爍單晶YAG:Ce晶體和LuAG:Ce晶體直接切割而成，從而保證具有超薄和...
軟X射線條紋相機 參考價：面議
軟X射線條紋相機是為快速過程或瞬態(tài)過程的圖像配準設計的X射線條紋相機,滿足在軟X射線波段的超快成像需要。
高分辨率增強型跨幀相機 參考價：面議
高分辨率增強型跨幀相機是一款大像素數(shù)增強型雙幅相機,具有4008x2688像素,適合對大面積成像或高清成像應用。高分辨率跨幀相機能夠以100微秒的間隔高分辨率成...
高分辨率高速攝像機 參考價：面議
高分辨率高速攝像機是為大視場高速攝影設計的全高清高速相機,滿幅2560x2048像素的幀速率為250幀/秒,全高清成像幀速率為500幀/秒,VGA圖像幀速率14...
門控超高速相機 參考價：面議
門控超高速相機是觸發(fā)速度極快的超高速門控選通成像系統(tǒng),采用高速選通像增強器或門控像增強器,用于如熒光壽命成像,雷達和時間分辨光譜等應用。
多頭相機多維成像系統(tǒng) 參考價：面議
多相機立體成像系統(tǒng)是一款多頭3D立體增強型相機系統(tǒng),具有幀間速度高,多相機頭特點，滿足燃燒測試,爆炸攝影等諸多科學研究。
高速門控增強相機 參考價：面議
高速門控增強相機是一種優(yōu)良的增強型門控相機攝像系統(tǒng)，專為超高速快門應用而設計，具有最高的分辨率，按圖片高度測量，最高可達1300條動態(tài)電視線。
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance 參考價：面議
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測...
四探針電阻率儀 參考價：面議
這款四探針電阻率儀是采用四點探針測量電阻率技術的四探針電阻率測試儀。自動測量晶圓電阻率,探針頭方便更換,探針頭由軟件可識別,探針半徑0.25mm,軟件自動計數(shù),...
單點硅片測厚儀 參考價：面議
單點硅片測厚儀MX30是采用單點測厚技術為硅晶圓厚度測量設計的硅晶圓測厚儀器。適合手動測量單點的晶圓厚度。
多功能翹曲度測定儀 參考價：面議
多功能翹曲度測定儀是一款多參數(shù)翹曲度測試儀器,可以測量PCB,IC等翹曲度,應變等參數(shù),更可以檢測隨溫度變化的翹曲度值。
單晶多晶硅片壽命測試儀 參考價：面議
單晶多晶硅片壽命測試儀是專用為晶圓品質檢驗,測量少子壽命,測量光電導率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測試儀器
晶圓少子壽命測量儀 參考價：面議
這款晶圓少子壽命測量儀是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復合壽命測量設計的少子壽命測試儀器。
單點少子壽命測量儀 參考價：面議
單點少子壽命測量儀系統(tǒng)是經(jīng)濟型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學參數(shù)進行表征。
微波探測光致電流瞬態(tài)譜儀 參考價：面議
微波探測光致電流瞬態(tài)譜儀采用微波技術探測材料的光生電流瞬態(tài)光譜值,非常適合溫度依賴的少子壽命測量和半導體界面陷阱。
晶圓晶錠壽命測定儀 參考價：面議
晶圓晶錠壽命測定儀是為晶圓晶錠測量少子壽命、光電導率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務設計的晶圓晶錠少子壽命測試儀器。采用非接觸式檢測和無損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測試儀 參考價：面議
這款溫度型少子壽命測試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復合壽命測量設計的溫度決定型少子壽命測定儀器。
進口光學薄膜測厚儀 參考價：面議
薄膜測厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物...
光學鍍膜檢測儀 參考價：面議
光學鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學鍍膜分析檢測設計的鍍膜掃描分光光度計,滿足光學樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區(qū)域的透射率...
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