聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀 參考價：面議
聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
鏡片透光率測試儀 參考價：面議
鏡片透光率測試儀是一款眼鏡鏡片透光率測量儀器,廣泛用于薄膜透光率測試,比如LED擴散板透光率測試,鏡頭透光率測試,玻璃透過率測試,隔熱紙材料透過率測試。
進口光學(xué)膜厚儀 參考價：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
顯微分光光度計薄膜測厚儀 參考價：面議
顯微分光光度計是多功能顯微薄膜測厚測量儀,結(jié)合顯微鏡測量薄膜吸收率,透過率,反射率以及薄膜熒光，通過測量薄膜反射率快速測量薄膜厚度,測量薄膜光學(xué)常量(n &k)...
光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀 參考價：面議
高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀是六軸電動MTF測試儀器,軟件控制MTF測試分析,滿足有限/有限對象/圖像共軛光學(xué)測量應(yīng)用。
法拉第屏蔽箱 參考價：面議
法拉第屏蔽箱采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效法拉第箱和電磁屏蔽箱，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴重的儀器實驗屏蔽電磁干擾使用,比如...
進口法拉第罩殼 參考價：面議
法拉第罩殼采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效設(shè)備，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴重的儀器實驗屏蔽電磁干擾使用。
磁場屏蔽消磁儀 參考價：面議
這款磁場屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當磁場傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
薄膜厚度均勻性測量儀 參考價：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n...
顯微薄膜測量儀,進口膜厚儀 參考價：面議
這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結(jié)合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測...
光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計技術(shù)測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
進口大型晶圓探針臺 參考價：面議
大型晶圓探針臺600LS是專業(yè)為300mm晶圓測試設(shè)計的大尺寸晶圓測試探針臺系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應(yīng)用。
磁場低溫探針臺 參考價：面議
磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測試應(yīng)用。
進口無氦低溫探針臺 參考價：面議
無氦低溫探針臺CPS-CF是為極低溫探針測試設(shè)計的閉循環(huán)低溫探針臺系統(tǒng),適合低溫下對器件和電路進行探針測試。
半自動真空探針臺 參考價：面議
這款半自動真空探針臺SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對多達100mm...
磁探針臺 參考價：面議
這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應(yīng)用.作為磁場探針臺實現(xiàn)了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.
進口高溫探針臺 參考價：面議
這款高溫探針臺是為高溫環(huán)境器件測試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺分析測試而設(shè)計。
閉循環(huán)低溫真空探針臺 參考價：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺是半自動低溫真空探針臺,可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測試經(jīng)驗和器件。
進口半自動探針臺 參考價：面議
這款半自動探針臺廣泛用作電動分析探針臺和半自動晶圓探針臺,可測試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺平臺制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進口晶圓測試探針臺 參考價：面議
這款手動型晶圓探針臺廣泛用作分析探針臺和RF探針臺,可測試200mm晶圓,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進口分析探針臺 參考價：面議
這款手動型分析探針臺廣泛用作晶圓探針臺和RF探針臺,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實驗室半導(dǎo)...
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