三維表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
這款三維表面輪廓儀是德國(guó)進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測(cè)量?jī)x器，也是一款光學(xué)輪廓儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)2D輪廓或三維輪廓...
光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀是專(zhuān)業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域的薄膜測(cè)量而開(kāi)的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
大型光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺(tái)，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長(zhǎng)范圍，是美國(guó)Angstrom公司為大尺...
反射式光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長(zhǎng)范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動(dòng)光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ?。自?dòng)spectroscop...
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng)是專(zhuān)業(yè)為光伏器件特性測(cè)量設(shè)計(jì)的太陽(yáng)能電池i-v測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量太陽(yáng)能電池的電流-電壓曲線，然后自動(dòng)計(jì)算關(guān)鍵器件屬性。此外，I-V測(cè)量可以隨...
四點(diǎn)探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)用于快速測(cè)量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個(gè)四點(diǎn)探針、源測(cè)量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測(cè)量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀能夠高精度高效率地測(cè)量太陽(yáng)能I-V曲線和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測(cè)量傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池和背接觸太陽(yáng)能電池。
Suns-Voc后擴(kuò)散測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
Suns-Voc后擴(kuò)散測(cè)試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過(guò)程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過(guò)程控制。
高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度測(cè)試儀能夠高精度測(cè)量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿(mǎn)足不同的晶圓厚度范圍。
飛秒激光微加工機(jī)床 參考價(jià)：面議
飛秒激光微加工機(jī)床是工藝級(jí)飛秒激光精細(xì)加工機(jī)床,廣泛用于工業(yè)鉆孔,蝕刻,切割,打標(biāo)等應(yīng)用。
彈丸跟蹤系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
彈丸跟蹤系統(tǒng)采用適合高速攝影和測(cè)量的直線高速追蹤技術(shù),非常適合高速運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的追蹤。
光電跟蹤系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款光電跟蹤系統(tǒng)采用適合高速攝影和測(cè)量的高速直線追蹤技術(shù),非常適合高速運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的追蹤。
微探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測(cè)試設(shè)計(jì)的納米級(jí)微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級(jí)微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
激光故障注入系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
激光故障注入系統(tǒng)是為集成電路安全性評(píng)估設(shè)計(jì)的高精度laser fault injection系統(tǒng)和激光故障注入顯微鏡,方便對(duì)集成電路進(jìn)行激光故障注入測(cè)試分析
光子輻射顯微鏡 參考價(jià)：面議
光子輻射顯微鏡是為集成電路失效分析設(shè)計(jì)的Photoemission光子輻射定位系統(tǒng),,可采集集成電路背部發(fā)射的紅外光子,觀察分析半導(dǎo)體的光子輻射,進(jìn)而對(duì)半導(dǎo)體集...
熱激光激發(fā)顯微鏡 參考價(jià)：面議
熱激光激發(fā)顯微鏡采用Thermal Laser Stimulation - TLS技術(shù),配備高清光學(xué)顯微鏡和高功率激光器,高精度聚焦定位集成電路板元器件進(jìn)行失效...
高功率光纖激光放大器 參考價(jià)：面議
這款高功率光纖激光放大器采用摻Y(jié)b微結(jié)構(gòu)光纖技術(shù)和全固態(tài)激光設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊而具有良好的激光穩(wěn)定性,適合搭建光纖激光放大實(shí)驗(yàn)。
五軸聯(lián)動(dòng)飛秒激光機(jī)床 參考價(jià)：面議
這款五軸聯(lián)動(dòng)飛秒激光機(jī)床采用瑞士激光機(jī)床技術(shù),飛秒激光微加工系統(tǒng)到新的高度,廣泛用于飛秒激光五軸聯(lián)動(dòng)加工。
diamond光對(duì)稱(chēng)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
diamond光對(duì)稱(chēng)測(cè)量?jī)x有效地測(cè)量光通過(guò)切割diamond時(shí)的質(zhì)量,光對(duì)稱(chēng)性通過(guò)檢驗(yàn)就diamond切割而言,看到光和感知光的效率成為衡量diamond質(zhì)量的...
diamond成色檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
diamond成色檢測(cè)儀通過(guò)量化diamond的光譜響應(yīng)來(lái)評(píng)估diamond質(zhì)量,提供科學(xué)準(zhǔn)確和可重復(fù)的diamond光性能測(cè)量。操作簡(jiǎn)單方便,只需將diamo...
3D多點(diǎn)共聚焦拉曼顯微鏡 參考價(jià)：面議
3D多點(diǎn)共聚焦拉曼顯微鏡Phalanx-R是世界上商用多點(diǎn)共焦掃描顯微拉曼光譜儀器,可獲得實(shí)時(shí)地二維拉曼圖像,可實(shí)時(shí)地觀察物質(zhì)或活細(xì)胞中隨時(shí)間變化的時(shí)間分辨的化...
EDXRF光譜儀 參考價(jià)：面議
EDXRF光譜儀采用X射線探測(cè)器和分析技術(shù),提供無(wú)以倫比的高速和高精度測(cè)量方案。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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