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CSK-IA超聲波標準試塊

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  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 濟寧市
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更新時間：2023-05-21 11:36:58瀏覽次數(shù)：2872

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應用領域 化工,石油,地礦,航空航天,綜合
CSK-IA超聲波標準試塊
CSK-IA超聲波標準試塊，調(diào)校儀器用超聲波試塊，濟寧模具廠試塊，東岳牌試塊
所屬標準： JB 4730-2005
材 質(zhì)： 20#鋼、不銹鋼、鋁合金或P91

詳細介紹

CSK-IA超聲波標準試塊

 

 CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
 

CSK-IA超聲波標準試塊

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

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