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當(dāng)前位置:上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>>>實驗室分析儀>>光學(xué)鑷子>> OT-AFM原子力和光鑷聯(lián)用系統(tǒng)
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間:2025-07-04 09:54:40瀏覽次數(shù):98次
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥 |
OT-AFM聯(lián)用系統(tǒng)將AFM的力測量和成像能力與光鑷的能力進行了結(jié)合,可在三維空間內(nèi)施加和測量微小的力。
OT-AFM聯(lián)用系統(tǒng)將AFM的力測量和成像能力與光鑷的能力進行了結(jié)合,可在三維空間內(nèi)施加和測量微小的力。聯(lián)用裝置滿足對機械穩(wěn)定性、靈活性和模塊化的最高要求。經(jīng)過特殊設(shè)計的OT-AFM ConnectorStage連接臺是將NanoWizard或CellHesion系列AFM與NanoTracker光鑷整合在科研級倒置光學(xué)顯微鏡上的關(guān)鍵。
光鑷的3D定位、檢測和操縱能力與AFM的高分辨率成像和表面特性表征能力,開啟了全新的應(yīng)用領(lǐng)域,如細胞響應(yīng)、細胞間或細胞與基質(zhì)間相互作用、免疫反應(yīng)、感染或細菌/病毒/納米顆粒攝取過程等。
由于有大量可用的手柄、相互作用和探測位點,OT-AFM顯著擴展了單分子應(yīng)用的范圍。
1. 當(dāng)利用光阱抑制(高功率激光)或量化旋轉(zhuǎn)(低功率激光)時,DNA發(fā)夾結(jié)構(gòu)解鏈(AFM)。
2. 修飾DNA分子的掃描。帶有DNA結(jié)合蛋白質(zhì)(綠色)的分子橫跨在兩個光阱之間。功能化的AFM探針(藍色)沿著分子掃描,每當(dāng)DNA連接的蛋白與探針之間發(fā)生相互作用時,都可被AFM和光鑷信號探測到。
3. 監(jiān)測DNA酶(例如聚合酶、解旋酶)動態(tài)。將鏈的一端連接到一個被光阱捕獲的粒子上,可以跟蹤步進運動。閉環(huán)的力加持允許在單鏈上保持恒定的力。
細胞響應(yīng)、細胞間或細胞與細胞基質(zhì)相互作用、免疫反應(yīng)、感染或細菌/病毒/納米顆粒攝取過程這些應(yīng)用僅是JPK*OT-AFM平臺能做的一少部分。JPK成熟的AFM和光鑷核心技術(shù),結(jié)合熒光顯微鏡,為活細胞應(yīng)用設(shè)置極基準(zhǔn)。
[1] + [2]:用功能化的小球激活細胞,同時進行AFM測量。微粒表面的信號分子在定義的位置和時間點與細胞接觸。
[5] + [6]:由被光鑷捕獲的粒子對機械敏感的細胞施加周期性的力刺激。細胞骨架內(nèi)部重組改變了細胞的機械性能。這些性能很容易被AFM方法,比如力成像,或JPK定量成像高階版(QI-Advanced)進行探測。
[3] + [4]:AFM還可用于監(jiān)測細胞結(jié)構(gòu)的變化,例如,通過在整個過程中監(jiān)測力學(xué)性能或通過分子識別力譜來研究膜蛋白的分布和力學(xué)行為。
使用功能化粒子或改性后的微生物來觸發(fā)細胞反應(yīng)是一種常見的方法。利用基于AFM的方法可以研究細胞結(jié)構(gòu)、動力學(xué)和機械特性的變化。然而,輸送物質(zhì)到細胞上感興趣的特定區(qū)域非常困難。光鑷為操作樣品和在精確的時間、位置觸發(fā)細胞響應(yīng)提供了美的工具。這顯著提高了相關(guān)研究的通量、靈活性和重復(fù)性。在本應(yīng)用中,利用OT-AFM量化了樹突狀細胞(DCs)和調(diào)節(jié)性T細胞(Treg)之間的信號對常規(guī)T細胞(Tconv)與相同樹突狀細胞之間粘附力的影響。
[1]圖為DC和Tconv的粘附力實驗。Tconv附著在一個的懸臂上,然后接近固定在表面的DC。懸臂拉起,粘附力被測量。通過光鑷將一個Treg附著在DC上然后移開,已測試其對結(jié)合力的影響。[2]+[3]圖中,當(dāng)使用附著在懸臂梁上的Tconv進行粘附力測量時,通過光阱(紅色十字)移動Treg。[4]圖為三種方式下測量的分離工作,Treg附著減少了DC-Tconv之間的相互作用。在移除Treg后,粘附水平幾乎恢復(fù)。樣品由來自卡爾加里大學(xué)/清華大學(xué)(北京)的Yan Shi提供,來自卡爾加里大學(xué)/清華大學(xué)。該研究最初由Yan Shi等人設(shè)計(已發(fā)表)。
從單分子尺度到活細胞尺度的成像、定位和操控
可測量二維或三維空間內(nèi)500 fN到10 nN的力
高度靈活和模塊化設(shè)計,具備廣泛的操作模式和配件
可與TIRF或Confocal等光學(xué)顯微技術(shù)全面集成
NanoTracker和NanoWizard/CellHesion 200系列都可以組合成完整的OT-AFM平臺
ConnectorStageTM連接臺可將AFM與光鑷耦合到大多數(shù)的倒置顯微鏡上,包括Zeiss、Nikon、Olympus和Leica的主要型號。
光學(xué)系統(tǒng)/附件、電化學(xué)解決方案、導(dǎo)體樣品表征、環(huán)境控制選項、軟件模塊、溫度控制、隔音和減振解決方案等。Bruker為您提供最匹配的附件,用于控制樣品條件并獲得成功的實驗。
兩套控制器獨立驅(qū)動兩套系統(tǒng)
NanoWizard AFM 控制器和軟件
NanoTracker OT 控制器和軟件
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