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愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
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訪問次數(shù)：6394更新時(shí)間：2025-06-09 07:36:28
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車及零部件 |
|---|
產(chǎn)品介紹
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年！
十六年致力于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
堅(jiān)融實(shí)業(yè)—— 一家真正有技術(shù)支持的儀器儀表設(shè)備供應(yīng)商！
我們銷售的每一臺(tái)儀器都附有制造廠商出具的合格證書及檢測(cè)計(jì)量報(bào)告。保證產(chǎn)品功能完好，附件齊全，指標(biāo)達(dá)到出廠標(biāo)準(zhǔn)。公司同時(shí)設(shè)有維修部，每臺(tái)儀器都提供三年或一年的保修，終身維護(hù)，可免除您的后顧之憂。
愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)，愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U主要應(yīng)用領(lǐng)域
電子產(chǎn)品因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象日益突出，本系統(tǒng)搭配以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化等問題。
●助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料
●BGA、 CSP 等精細(xì)節(jié)距 IC 封裝件
●有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)（有機(jī) EL)
●電容、連接器等其他電子元器件及材料
●各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估
愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U主要特點(diǎn)
•高精準(zhǔn)測(cè)量
自主開發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式，配備國際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量儀表，與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，操作更簡(jiǎn)便更安全。
•應(yīng)力電壓范圍廣泛
標(biāo)配 100V 應(yīng)力電壓（應(yīng)力電壓/測(cè)量電壓），更有 1000V、 2500V 高電壓可選。
•連續(xù)通電掃描方式
掃描動(dòng)作技術(shù)，切換掃描時(shí)不發(fā)生無電壓狀態(tài)，測(cè)量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制，可準(zhǔn)確控制電壓。
•漏電流檢測(cè)功能
高速準(zhǔn)確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化，離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
•專用統(tǒng)計(jì)軟件
可實(shí)時(shí)編輯預(yù)覽監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)獲得的數(shù)據(jù)。
•專用連接試樣夾具
選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗(yàn)效率更高。
面對(duì)電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫
高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。 適用標(biāo)準(zhǔn)： JPCA-ET04、 IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、 IPC-TM-650_2.6.3.4A 、 IPC-TM-650_2.6.3.6。?
系統(tǒng)配置：
最大可接入路數(shù)：512 路（128 路、256 路、384 路、512 路可選配）。
試驗(yàn)時(shí)間：0000:00:00 ～ 9999:59:59h，可任意設(shè)定。
測(cè)試電壓：5～1000VDC（可外接電源至 3000V，其他電壓可定制）
測(cè)試電壓精度： 5～20VDC（±3%）；21～1000VDC（±1%）
絕緣電阻測(cè)試范圍：1╳106 - 1╳1014 Ω
電阻測(cè)量精度：
測(cè)試電壓為 5V 時(shí)：1╳106 - 1╳1010 Ω ≤±5%；1╳1010 - 1╳1011 Ω ≤±10%
測(cè)試電壓為 50V 時(shí)：1╳1011 - 1╳1012 Ω ≤±15%
測(cè)試電壓為 500V 時(shí)：1╳1012 - 1╳1013 Ω ≤±20%
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