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天津綜科科技有限公司
主營產(chǎn)品： 粉塵中游離二氧化硅檢測儀,精密光學(xué)平臺,TJ270-30A紅外分光光度計 |
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聯(lián)系電話
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天津綜科科技有限公司
主營產(chǎn)品： 粉塵中游離二氧化硅檢測儀,精密光學(xué)平臺,TJ270-30A紅外分光光度計 |
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郭（同）
RTS-4型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
儀器采用了電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
RTS-4型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析
RTS-4型數(shù)字式四探針測試儀技術(shù)指標(biāo) ：.
測量范圍
電阻率：0.0001～2000Ω.cm(可擴展)；
方塊電阻：0.001～20000Ω/□(可擴展)；
電導(dǎo)率：0.005～1000 s/cm；
電阻：0.0001～2000Ω；
可測晶片直徑
140mmX150mm(配S-2A型測試臺)；
200mmX200mm(配S-2B型測試臺)；
400mmX500mm(配S-2C型測試臺)；
恒流源：電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表：量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；極性、超量程自動顯示；
四探針探頭基本指標(biāo) 間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) (見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量zui大相對誤差 (用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
整機測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 ≤5%
計算機通訊接口 并口
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強光直射；
相關(guān)產(chǎn)品關(guān)鍵字：RTS-4四探針測試儀、RTS-5四探針測試儀、RTS-9雙電測四探針測試儀、RTS-8四探針測試儀、RTS-3四探針測試儀、RTS-2四探針測試儀、SB100A/2四探針導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率測試儀、ST-21 方塊電阻測試儀、CV-2000 型電容電壓特性測試儀、PN-30 導(dǎo)電類型鑒別儀、PN-12 導(dǎo)電類型鑒別儀、LT-2 單晶少子壽命測試儀、LT-3 單晶少子壽命測試儀
