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天津綜科科技有限公司

主營產(chǎn)品: 粉塵中游離二氧化硅檢測儀,精密光學(xué)平臺,TJ270-30A紅外分光光度計

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[供應(yīng)]RTS-5型-雙電測四探針測試儀
RTS-5型-雙電測四探針測試儀
貨物所在地:
天津天津市
更新時間:
2023-11-22 09:54:27
有效期:
2023年11月22日--2025年9月21日
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240
【簡單介紹】RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計算機控制下進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。
【詳細說明】

郭(同)

RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計算機控制下進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態(tài)的自動修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些,用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所生產(chǎn)的儀器是無法實現(xiàn)的。

RTS-5型雙電測四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。

測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析

RTS-5型雙電測四探針測試儀技術(shù)指標(biāo)

測量范圍電阻率:0.00012000Ω.cm(可擴展);  
 方塊電阻:0.00120000Ω/□(可擴展);
 電導(dǎo)率:0.0051000 s/cm;
 電阻:0.0012000Ω;

可測晶片厚度≤3mm

可測晶片直徑140mmX150mm(S-2A型測試臺);
 200mmX200mm(S-2B型測試臺);
 400mmX500mm(S-2C型測試臺);

恒流源電流量程分為0.1mA1mA、10mA、100mA四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表量程及表示形式:000.00199.99mV;    
 分辨力:10μV
 輸入阻抗:>1000MΩ;
 精度:±0.1% ;
 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動顯示;

四探針探頭基本指標(biāo)間距:1±0.01mm;
 針間絕緣電阻:≥1000MΩ;
 機械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
 探針壓力:516 牛頓(總力)

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)(見探頭附帶的合格證)

模擬電阻測量相對誤差
( JJG508-87進行)  0.1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1

整機測量zui大相對誤差(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±4%

整機測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤4%

計算機通訊接口并口

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境溫度:23±2;
 相對濕度:≤65%;
 無高頻干擾;
 無強光直射;

相關(guān)產(chǎn)品關(guān)鍵字:RTS-4四探針測試儀、RTS-5四探針測試儀、RTS-9雙電測四探針測試儀、RTS-8四探針測試儀、RTS-3四探針測試儀、RTS-2四探針測試儀、SB100A/2四探針導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率測試儀、ST-21 方塊電阻測試儀、CV-2000 型電容電壓特性測試儀、PN-30 導(dǎo)電類型鑒別儀、PN-12 導(dǎo)電類型鑒別儀、LT-2 單晶少子壽命測試儀、LT-3 單晶少子壽命測試儀



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