儀電物光X-4A顯微熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù)
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時）
溫度顯示zui小值：0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×

儀電物光X-4A顯微熔點(diǎn)儀測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

現(xiàn)在熔點(diǎn)儀有許多種類，顧客可以根據(jù)自己的需要與經(jīng)濟(jì)能力來選擇自己合適的機(jī)型。

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