KLA 探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點是直接測量，與材料特性無關(guān)。多...
KLA 探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA D600 探針式表面輪廓儀采用光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點是直接測量，與材料特性無關(guān)。...
KLA 探針式臺階儀 參考價：面議
KLA P-7 探針式臺階儀是KLA公司的探針式臺階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎之上。它保持了P-17技...
KLA 探針式臺階儀 參考價：面議
KLA P-17 探針式臺階儀是P系列探針式臺階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內(nèi)實現(xiàn)高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個區(qū)域。KL...
KLA 全自動探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA P-170 全自動探針式表面輪廓儀一款盒對盒型臺階儀，具有KLA P-17 探針式表面輪廓儀的臺式系統(tǒng)測量性能和HRP260系統(tǒng)經(jīng)生產(chǎn)驗證的處理程序。該...
KLA 光學輪廓儀 參考價：面議
KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價格...
KLA 表面光學輪廓儀 參考價：面議
KLA Zeta-388光學輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在Zeta-300光學輪廓儀的基礎上，增加了用于全自動測量的機械手臂操作系統(tǒng)。Zeta-...
KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價：面議
KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術(shù)而來。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對大部分材料和結(jié)構(gòu)進行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反...
Filmetrics 自動光反射膜厚測量儀 參考價：1
Filmetrics F60-t 自動光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功...
Filmetrics 單點光學膜厚測量儀 參考價：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎所發(fā)展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統(tǒng)接觸式探頭大...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測設備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能...
Filmetrics 光學厚膜測厚儀 參考價：面議
Filmetrics F3-sX 光學厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達到3毫米的眾多半導體及介電層薄膜。相對于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
Filmetrics 光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)...
Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING 參考價：面議
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，...
Filmetrics 光學膜厚測量儀 參考價：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450...
Filmetrics 光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自動測量光學膜厚儀 參考價：面議
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀 參考價：面議
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種...
KLA 四探針電阻率測量儀 參考價：面議
KLA R54 四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產(chǎn)品。從半導體制造到實現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都相當重要。K...
KLA 四探針電阻率測量儀 參考價：面議
KLA R50 四探針電阻率測繪系統(tǒng)是KLA電阻測試系列的產(chǎn)品。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都相當重要，從半導體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。...
KLA 納米壓痕儀 參考價：59
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。該儀...
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