透射電鏡雙傾探針電學原位系統 參考價：面議
透射電鏡雙傾探針電學原位系統通過納米探針對樣品施加電場控制，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品...
透射電鏡力電原位系統 參考價：面議
透射電鏡力電原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，...
透射電鏡高溫力電原位系統 參考價：面議
透射電鏡高溫力電原位系統通過MEMS芯片對樣品施加力學、電場、熱場控制，在原位樣品臺內構建力、電、熱復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAE...
透射電鏡高溫力學原位系統 參考價：面議
透射電鏡高溫力學原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、熱復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模...
7