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深圳市中圖儀器股份有限公司

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  • 無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量設(shè)備晶圓幾何測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何測量設(shè)備無圖晶圓形貌測量設(shè)備
    2025/4/7 14:04:351092

  • 晶圓形貌測量設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓形貌測量設(shè)備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。能實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TT...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備晶圓幾何形貌測量設(shè)備晶圓測量系統(tǒng)
    2025/4/7 12:43:141037

  • 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓厚度測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)晶圓厚度量測設(shè)備晶圓表面形貌測量系統(tǒng)
    2025/4/7 12:27:191213

  • 晶圓表面形貌檢測設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000系列晶圓表面形貌檢測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，自動測量Wafer厚度、表面粗...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備無圖晶圓幾何量系統(tǒng)
    2025/4/7 11:34:081306

  • 半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng)采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導(dǎo)體晶圓測量系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓檢測機(jī)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓厚度測量設(shè)備
    2025/4/7 10:33:161260

  • 半導(dǎo)體晶圓表面形貌檢測設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓表面形貌檢測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、L...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌檢測設(shè)備晶圓表面形貌檢測設(shè)備晶圓檢測機(jī)
    2025/4/7 10:13:181977

  • 晶圓幾何形貌自動檢測機(jī) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000系列晶圓幾何形貌自動檢測機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測機(jī)晶圓形貌檢測機(jī)晶圓幾何形貌檢測機(jī)晶圓自動檢測機(jī)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2025/4/7 9:57:171246

  • 晶圓表面形貌測量設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓表面形貌測量設(shè)備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量設(shè)備晶圓表面粗糙度測量設(shè)備晶圓表面形貌測量晶圓形貌測量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓檢測
    2025/4/7 9:00:011315

  • WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?；诎坠飧缮鎴D的光譜分析儀，通過數(shù)值七點(diǎn)相移算法計算，達(dá)到亞納...
    型號： 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓檢測機(jī)晶圓檢測系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓檢測無圖晶圓檢測設(shè)備
    2025/4/7 8:50:261484
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