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LBIC-S1光電流 IV/IT/ 成像測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):面議
微納光電成像測(cè)試系統(tǒng)是一種利用顯微成像手段,通過(guò)不同波長(zhǎng)激光進(jìn)行探測(cè),分析表征光電子器件的短路電流分布,表面缺陷, 反射率等參數(shù)。并通過(guò)掃描獲得的圖像,分析各種...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)