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老化測(cè)試高溫試驗(yàn)箱(Aging Test Chamber或High Temperature Test Chamber)是一種用于模擬高溫環(huán)境,測(cè)試材料、電子元器件、PCB、汽車部件等產(chǎn)品在長(zhǎng)期高溫條件下的可靠性、耐久性及性能變化的專業(yè)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、化工、光伏等行業(yè)。
測(cè)試目標(biāo) | 應(yīng)用場(chǎng)景 |
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高溫老化壽命評(píng)估 | |
材料熱穩(wěn)定性測(cè)試 | |
加速老化試驗(yàn) | |
環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS) |
參數(shù) | 典型范圍 | 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)參考 |
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模塊 | 功能說明 |
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加熱系統(tǒng) | |
風(fēng)道設(shè)計(jì) | |
控制系統(tǒng) | |
安全保護(hù) | |
觀測(cè)窗口 |
樣品裝載
參數(shù)設(shè)置
啟動(dòng)測(cè)試
結(jié)果分析
測(cè)試條件
判定標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
案例
測(cè)試要求
需求 | 推薦配置 |
---|---|
日常維護(hù)
校準(zhǔn)要求
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