XF-S6是西凡儀器推出的旗艦款多功能X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè)。該產(chǎn)品搭載美國(guó)AMPTEK定制Fast-SDD探測(cè)器、配備多準(zhǔn)直器和多濾光片，內(nèi)置Intel 12核CPU工控電腦，采用Smart FP算法，創(chuàng)新性應(yīng)用西凡第二代X射線與可見(jiàn)光共焦點(diǎn)垂直光路，其可獲得更小的實(shí)際照射焦斑。能夠精準(zhǔn)分析貴金屬成分、寶石成分、RoHS有害物質(zhì)、鍍層厚度、礦石成分和離子濃度等，檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高。

產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鋁(13)～鈾(92)          

可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析

可支持寶石人工/天然分析

鍍層報(bào)警、錸鎢檢測(cè)報(bào)警

分析范圍：

貴金屬：0.010%～99.999%

鍍層：0.001um~80um

液體：5mg/L~200g/L

RoHS：10ppm~99.999%

檢測(cè)精度：

貴金屬：±0.01%(9999金)

鍍層：RSD≤1.5%

液體：RSD≤1.5%

RoHS：1ppm（理想狀態(tài)）

檢測(cè)樣品：

合金/鍍層/寶石/珍珠/液體/粉末/RoHS

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

支持連接天平采集重量數(shù)據(jù)以及獲取黃金實(shí)時(shí)牌價(jià)計(jì)算價(jià)格

支持自動(dòng)計(jì)算多結(jié)果的平均值和RSD

遵守ISO23345及ISO3497標(biāo)準(zhǔn)

核心部件

探測(cè)器：美國(guó)AMPTEK定制Fast-SDD

探測(cè)器面積：25mm²

分辨率：125±5eV

內(nèi)置工控電腦：Intel i5十二核

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹

靶材：鎢

焦點(diǎn)：Φ0.1mm

準(zhǔn)直器：Φ0.5mm+Φ1.5mm