致茂電容漏電流絕緣電阻表MODEL 11200產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Chroma 11200電容漏電流/絕緣電阻表為Chroma最新推出的數(shù)字式漏電流量測(cè)儀表，提供1~650V, 0.5~500mA(150mA當(dāng)V>100V)或1~800V, 0.5~500mA (50mA當(dāng)V>100V)的直流電源，具備電壓表與奈安表，主要應(yīng)用于電解電容漏電流與鋁箔耐壓的測(cè)試(EIAJ RC-2364A)，亦可應(yīng)用于突波吸收器、齊納二極管、霓虹燈管等產(chǎn)品的工作電壓檢查與漏電流量測(cè)。藉由標(biāo)配的RS-232界面、選配的GPIB & Handler界面與穩(wěn)定的量測(cè)表現(xiàn)，Chroma 11200既能夠于產(chǎn)線上作為組件特性的評(píng)估方案，也能成為提供基礎(chǔ)漏電流與絕緣電阻測(cè)試功能的桌上型儀表。
1~650V, 150mA/500mA或1~800V,
50mA/500mA 低噪聲直流電壓源
Chroma 11200是以低噪聲的線性電源供應(yīng)器設(shè)計(jì)，輸出直流電壓范圍從1.0V到650V/800V，從低耐壓電容的漏電流測(cè)試到鋁箔耐壓測(cè)試的范疇皆能適用，最大充電電流為500mA/100V,150mA/650V或50mA/800V，對(duì)于大容量產(chǎn)品能夠快速地充電。
精密的微小定電流充電能力 (0.5mA ±0.05mA)
鋁電解電容正極鋁箔的氧化膜通常是以極低的定電流來(lái)測(cè)試鋁箔皮膜耐壓與電壓上升時(shí)間(由EIAJ RC-2364A標(biāo)準(zhǔn)定義，根據(jù)不同鋁箔形式，測(cè)試電流為0.5mA, 1mA或2mA ±10%)，Chroma 11200可提供高穩(wěn)定度且0.5mA的充電定電流。
0.001μA~20.00mA 漏電流測(cè)試范圍與4位數(shù)
顯示分辨率
Chroma 11200內(nèi)建0.001uA到20mA測(cè)試范圍的奈安表，適合應(yīng)用于電解電容、高介電陶瓷電容的漏電流或絕緣電阻測(cè)試，其超低輸入電阻的設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)高電容量組件的快速測(cè)試。
輸出電壓監(jiān)控
為了確保操作者的安全，不論是在測(cè)試中或是在操作設(shè)定的狀態(tài)，Chroma 11200都會(huì)持續(xù)監(jiān)控實(shí)際的輸出電壓，除了在測(cè)試頁(yè)面上顯示實(shí)際輸出電壓值，在其他操作頁(yè)面中，當(dāng)輸出電壓異常超過(guò)10V，會(huì)顯示錯(cuò)誤訊息。
65W/50W 多段定功率放電電路
為了在測(cè)試后達(dá)成快速地放電，Chroma11200內(nèi)建有65W/50W的多段定功率放電電路，能夠滿足充電大電容的快速放電需求。
標(biāo)配RS-232接口與選配GPIB & Handler接口
Chroma 11200標(biāo)配的RS-232界面能應(yīng)用于研發(fā)或質(zhì)量檢驗(yàn)端，遠(yuǎn)程控制儀器并收集測(cè)試數(shù)據(jù)，GPIB & Handler接口則可依自動(dòng)化需求選購(gòu)。
特點(diǎn)
■ 電容漏電流測(cè)試功能
■ 絕緣電阻測(cè)試功能
■ 基本準(zhǔn)確度: 0.3%
■ 定電流DC電源含放電功能
■ 順向電壓測(cè)試功能, 二極管diode, LED,Zener diode與varistor測(cè)試應(yīng)用
■ 電解電容浪涌電壓測(cè)試功能(符合JIS C5101/5102/5140/5141測(cè)試需求)
■ 選配接觸檢查功能, 提升測(cè)試可信賴性
■ 鋁箔耐壓與上升時(shí)間測(cè)試功能(符合EIAJ RC-2364A測(cè)試需求)
■ 精密的微小定電流充電能力 (0.5mA±0.05mA, 符合EIAJ RC-2364A測(cè)試需求)
■ 大電流充電能力(500mA)提升充電速度
■ 測(cè)試電壓1.0V~650V/800V
■ 0.001uA~20.00mA漏電流量測(cè)范圍與4位數(shù)顯示分辨率
■ 內(nèi)建數(shù)位式定時(shí)器
■ 比較器與良品/不良品警示聲響功能
■ 標(biāo)準(zhǔn)的RS-232接口
■ 可選購(gòu)GPIB & handler界面
致茂電容漏電流絕緣電阻表MODEL 11200應(yīng)用
■ 各類型電解電容, 高介電陶瓷電容
■ 鋁箔耐壓測(cè)試 (符合EIAJ RC-2364A需求)
■ 半導(dǎo)體組件漏電流或絕緣電阻測(cè)試
■ 各類型抗靜電材料, 非超高絕緣材料(IR<100GΩ) RS-232C
