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2020
05-19

馬爾文帕納科帶你快速了解噴霧粒度分析儀
激光粒度儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。Spraytec實時噴霧粒度分析儀用于實時測量噴霧和煙霧的粒度分布。使用激光衍射技術(shù)，專門開發(fā)用于對濃縮噴霧和氣霧劑中的液滴進行實時高速測量，采用激光衍射技術(shù)，用于實驗室內(nèi)外的試驗臺，靈活且堅固耐用。技術(shù)參數(shù):1.粒度測量范圍0.5mm~1040mm；2.高速測量(2500Hz探測率)和靈活觸發(fā)功能，方便對霧
2020
04-21

能量色散型X射線熒光光譜儀的主要特點有哪些？
X-熒光是什么？下面我?guī)ьI(lǐng)你們詳細(xì)了解一下。物質(zhì)是由原子組成的，每個原子都有一個原子核，原子核周圍有若干電子繞其飛行。不同元素由于原子核所含質(zhì)子不同，圍繞其飛行的電子層數(shù)、每層電子的數(shù)目、飛行軌道的形狀、軌道半徑都不一樣，形成了原子核外不同的電子能級。在受到外力作用時，例如用X-光子源照射，打掉其內(nèi)層軌道上飛行的電子，這時該電子騰出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要從其較外電子層上吸引一個電子來補充，這時原子處于激發(fā)態(tài)，其相鄰電子層上電子補充到內(nèi)層空穴后，本身產(chǎn)生的空穴由其外層上電子再補
2020
04-17

帶你了解工業(yè)X射線衍射儀
X射線衍射儀是對物質(zhì)和材料的組成和原子級結(jié)構(gòu)進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結(jié)構(gòu)參數(shù)分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數(shù)測定(晶體結(jié)構(gòu)分析)、多晶X-射線衍射的指標(biāo)化以及晶粒尺寸和結(jié)晶度的測定等?？傻販y定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，如：物相定性與定量分析，衍射譜的指標(biāo)化及點陣參數(shù)。工業(yè)X射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)開發(fā)出的專門用于工業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)品開發(fā)，質(zhì)量控制的X射線衍射儀。廣泛應(yīng)用于鋁行業(yè)，石油化工行業(yè)，鋼鐵行業(yè)等工業(yè)領(lǐng)域。采用了新型X光管
2020
04-14

粒度分析儀的原理是什么？又具有哪些特點呢？
Insitec在線粒度分析儀主要為流程控制中的顆粒表征提供智能化解決方案。廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)，包括墨粉、制藥、水泥、礦物、粉末涂料、顏料、金屬粉末，以及用于各種涉及研磨、分級、噴霧干燥、霧化、過濾和造粒的過程中。特點：1.高濃度分析技術(shù)2.分析儀樣品處理*自動化以及與工廠控制系統(tǒng)的實時數(shù)據(jù)鏈接3.設(shè)計用于GAMP4環(huán)境4.ATEX認(rèn)證，本安型5.廣泛應(yīng)用于制造業(yè)6.基于對各單獨過程的理解提供zui合適的過程解決方案7.所有分析儀均可每周7天每天24小時持續(xù)運行，維護量和故障率極小在粉體加工與應(yīng)用
2020
03-02

【馬爾文帕納科】小微粒，大作用——霧化吸入療法助力抗擊新冠肺炎
在這場突然爆發(fā)的新冠疫情中，那些每天不斷攀升的確診病例的數(shù)字牽動人心。由于缺乏針對COVID-19病毒的*藥和疫苗，新冠肺炎患者在與病毒搏斗的過程中，自身的免疫能力顯得尤為重要。日前，國家衛(wèi)健委發(fā)布了《新型冠狀病毒感肺炎診療方案（第六版）》[1]，推薦霧化吸入α-干擾素作為抗病毒的一般治療手段之一，通過刺激人體免疫細(xì)胞來增強自身免疫功能。目前在中國臨床試驗注冊中心申請登記的199項針對新冠肺炎的臨床項目中，多項臨床治療項目均將霧化吸入α-干擾素作為基礎(chǔ)用藥[2]。另外，美國Pulmotect公司
2020
02-24

x射線粉末衍射儀對于多晶混合物衍射圖譜分析鑒定時應(yīng)注意什么?
x射線粉末衍射儀分析晶體對X射線的衍射效應(yīng)是取決于它的晶體結(jié)構(gòu)，不同種類的晶體將給出不同的衍射花樣。假如一個樣品內(nèi)包含了幾種不同的物相，則各個物相仍然保持各自特征的衍射花樣不變。而整個樣品的衍射花樣則相當(dāng)于它們的迭合。除非兩物相衍射線剛好重迭在一起，二者一般之間不會產(chǎn)生干擾。這就為鑒別這些混合物樣品中和各個物相提供了可能。關(guān)鍵是如何將這幾套衍射線分開。這也是多相分析的難點所在。x射線粉末衍射儀談對于多晶混合物衍射圖譜分析鑒定時應(yīng)注意：1、低角度線的數(shù)據(jù)比高角度線的數(shù)據(jù)重要。這是因為，對于不同晶體
2020
01-17

接下來要說是關(guān)于X射線衍射儀的，別錯過哦！
X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射儀的原理：x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家勞
2019
08-20

分析X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點
X射線熒光光譜儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、醫(yī)療、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進行試測，對產(chǎn)品和材料質(zhì)量進行無損檢測，對人體進行醫(yī)檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟的多元素分析方法。X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點：1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目
2019
07-28

淺談X射線熒光光譜儀的物理原理
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。X射線熒光光譜儀的物理原理當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會
2019
07-21

來談?wù)勱P(guān)于X熒光光譜儀的優(yōu)點
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，
2019
05-28

zeta電位儀的測量方法的解析
zeta電位儀的測量方法：電泳法對許多熟悉利用此法進行高分子分離的人來說，顆粒電泳也是一個類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場中；如果帶電他們會在電場產(chǎn)生流動，陽性顆粒朝負(fù)極流動，陰性顆粒朝正極流動。然而，顆粒并不是獨自流動，他們周圍會攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而zeta電位正是這一界面的電位。因此zeta電位可以通過測量顆粒在已知電場中的流速來測定。早期的測量儀器（Rank微電泳儀）通過充滿誤差，慢速度的手動方法觀察顆粒，并自
2019
05-05

高分辨率 X 射線衍射儀可對幾乎的材料進行無損分析
高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一系列應(yīng)用技術(shù)，用于對大多數(shù)幾乎的分層結(jié)晶結(jié)構(gòu)材料進行無損分析。能夠揭示和量化結(jié)構(gòu)參數(shù)，對于成功應(yīng)用這些材料是至關(guān)重要的。目前，大多數(shù)現(xiàn)代半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)是在由硅、硅鍺、III-V和II-VI化合物制成的基體上氣相外延生長而成的。這些薄膜是幾乎的晶體薄膜，具有相對較低的位錯密度。薄膜性能很大程度上取決于它們的成份和結(jié)構(gòu)參數(shù)。通過使用高分辨率X射線光學(xué)系統(tǒng)測量搖擺曲線和倒易空間圖來獲得諸如層厚度、成份、應(yīng)力、張馳度和結(jié)構(gòu)質(zhì)量的信息。通過X射線衍射成像方法，例如X射線
2019
04-26

使用微量熱法進行生物材料分析時采用哪兩種量熱技術(shù)
量熱法是測量化學(xué)反應(yīng)或物理事件所引起熱量變化的一種技術(shù)。量熱法所依賴的事實是，所有化學(xué)反應(yīng)都涉及能量變化，通常伴有熱量釋放（放熱）或熱量吸收（吸熱）。與量熱法相比，微量熱法的靈敏度超高，可測定少量樣品中極細(xì)微的熱量變化，從而使其適合用于生物材料。微量熱法用于研究涉及生物分子的反應(yīng)，包括分子間的相互作用以及蛋白質(zhì)折疊之類的構(gòu)象變化。應(yīng)用范圍覆蓋從在小分子藥物發(fā)現(xiàn)過程中確認(rèn)預(yù)期結(jié)合靶標(biāo)到開發(fā)穩(wěn)定性生物治療藥物的多個領(lǐng)域。這些生物學(xué)過程通常采用兩種量熱技術(shù)進行研究：等溫滴定量熱法(ITC)和差示掃描量
2019
04-23

X射線衍射儀的原理解析
X射線衍射儀的原理：x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學(xué)預(yù)見，隨即被實驗所證實。1913年，英國物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上，不僅成功的
2019
04-12

EmpyreanX射線衍射可實現(xiàn)哪些X 射線成像測量技術(shù)
Empyrean銳影X射線衍射系統(tǒng)是荷蘭帕納科公司繼X’Pert專家系統(tǒng)后，十年一劍，推出的全新X射線衍射儀，可滿足當(dāng)前4大類X-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發(fā)的X光管，的測角儀、*的新樣品臺和嚴(yán)格的輻射安全防護。衍射平臺上的三維探測系統(tǒng)，PIXcel3D探測器將使用于這一多功能的X-射線衍射系統(tǒng)上，將面探測技術(shù)與CT技術(shù)平民化。使用EmpyreanX射線衍射和混合像素探測器PIXcel3D和GaliPIX3
2019
04-08

Empyrean 支持各種 X 射線散射技術(shù)
EmpyreanNano版多功能X射線散射平臺是一種混合實驗室X射線散射儀。這款*的設(shè)備支持多種技術(shù)，以多種長度比例進行（納米）材料的結(jié)構(gòu)鑒定。與市場上的其它實驗室儀器不同，EmpyreanNano版涵蓋了從sub-?ngstr?ms到微米級的布拉格間距，以及跨越幾乎50年的散射矢量q范圍——沒有任何間隙。主要應(yīng)用：1、SAXS（小角X射線散射）SAXS是分析各種樣品類型（液體、粉末、固體、凝膠...）的納米級結(jié)構(gòu)和尺寸的通用工具之一。樣品可以是無定形、結(jié)晶或半結(jié)晶。通過SAXS研究的典型樣品包
2019
04-02

兩種類別的X 射線熒光光譜的區(qū)別在哪
X射線熒光(XRF)光譜測定是一種無損式分析技術(shù)，可用于獲取不同類型材料的元素信息。它已在許多行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛運用，包括：水泥生產(chǎn)、玻璃生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、制藥、保健產(chǎn)品和環(huán)保。光譜儀系統(tǒng)通常分為兩大類：波長色散式系統(tǒng)(WDXRF)和能量色散式系統(tǒng)(EDXRF)。兩者之間的區(qū)別在于檢測系統(tǒng)。在波長色散式光譜儀中，X射線光管用作直接照射樣品的光源，并且使用波長色散式檢測系統(tǒng)來測量樣品發(fā)出的熒光。分光晶體根據(jù)波長（而不是能量）來分離X射線，可用于識
2019
03-26

Zeta電位儀的特點解析
Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應(yīng)過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點，是認(rèn)識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性?？蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。Zeta電位儀的特點：1、儀器采用新設(shè)計
2019
03-25

Aeris，重新定義臺式X射線衍射儀
2016年11月，X射線分析儀器和軟件供應(yīng)商帕納科宣布推出全新的Aeris臺式X射線粉末衍射儀（XRD）。這款新系統(tǒng)的主要優(yōu)點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、地提供被測材料的物相信息。Aeris，重新定義臺式X射線衍射儀：（1）Aeris內(nèi)置的觸摸屏界面直觀，可直接顯示各種分析結(jié)果，所有人都可以無障礙地使用這款儀器。（2）Aeris還具有擁有成本低的優(yōu)點-它僅需要一個單相電源插口，既不需要冷卻水，也不需要壓縮空氣。（3）Aeris還具備帕納科設(shè)備所含的多種成熟技術(shù)，其性能超出常見的臺
2019
03-21

X 射線熒光技術(shù)可用于測定多種類型樣品的化學(xué)成分
X射線熒光(XRF)是可用于測定多種類型樣品（包括固體、液體、漿料和疏松粉末）化學(xué)成分的分析技術(shù)。X射線熒光還用于確定分層和涂層的厚度和成分。它可以分析從鈹(Be)到鈾(U)的各種元素，涵蓋從100wt%到百萬分之一以下的濃度范圍。XRF是一種可靠的技術(shù)，結(jié)合了高精度和準(zhǔn)確性以及簡便、快速的樣品制備等優(yōu)點。它可以在要求實現(xiàn)高處理量的工業(yè)環(huán)境下自動完成使用準(zhǔn)備，并且提供定性和定量的樣品相關(guān)信息。這種定性和定量信息的輕松組合還使快速篩選（半定量）分析成為可能。XRF是一種原子發(fā)射方法，類似于光發(fā)射光

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馬爾文帕納科

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