的高性能

在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

滿足當(dāng)前和未來需求

Park Systems XE7 原子力顯微鏡?現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)較全面的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上較為開放性的設(shè)計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。

易于使用和高生產(chǎn)率

Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、Park Systems XE7 原子力顯微鏡自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究效率的提高。

經(jīng)濟(jì)實惠超越了系統(tǒng)成本

Park XE7不僅僅是高性價比的研究級原子力顯微鏡，也是使用成本低的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact™模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針*，并且它配有業(yè)內(nèi)多的掃描模式，兼容性佳，讓您可隨時升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命

Park XE7

滿足*研究的創(chuàng)新功能

精確的XY方向掃描，*消除了交叉耦合誤差

■樣品探針和針尖的兩種獨立閉環(huán)XY和Z平板式掃描

■平板式和線性XY掃描，殘余彎曲誤差極小

■整個掃描范圍內(nèi)的水平線性誤差小于2nm

■精確的高度測量

Non-ContactTM(真正非接觸TM)模式能夠延長針尖壽命，

提供高分辨率和保護(hù)樣品。

■其Z伺服速度是壓電管基礎(chǔ)系統(tǒng)的10倍

■非接觸式可降低針尖摩損、延長使用壽命

■成像分辨率優(yōu)于同類原子力顯微鏡

■增強(qiáng)樣品兼容性，提高掃描速度