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IM3570的功能和特點(diǎn)如下：

(1) 廣泛的測量頻率和電平

測量條件可以在4 Hz~5 MHz的測量頻率和5 mV~5 V的測量電平范圍內(nèi)變化?？梢栽诮咏l率/電平特性和操作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測量和評(píng)

估。

(2) 高速測量

最快0.5 ms/點(diǎn)的高速測量是可能的。即使在壓電元件等生產(chǎn)線上，也可以快速確定諧振頻率，從而縮短節(jié)拍時(shí)間。

(3) 高精度測量

重復(fù)精度比傳統(tǒng)產(chǎn)品提高了一位數(shù)。特別是在高頻和低阻抗測量時(shí)，重復(fù)精度得到了提高?？?/span>慮到集成到自動(dòng)機(jī)器中，確保電纜延伸長達(dá)4 m時(shí)的準(zhǔn)確性。

(4) 掃描測量

可以對頻率和電平進(jìn)行2到801個(gè)點(diǎn)的掃描測量。在分段測量中，可以連續(xù)掃描不同的掃描范圍，因此可以進(jìn)行各種測量和評(píng)估，例如在存在多個(gè)諧振點(diǎn)的情況下或在改變測量電平的同時(shí)測量頻率特性。

(5) 自動(dòng)搜索功能

掃描測量結(jié)果可以自動(dòng)搜索最大值、最小值、局部最大值、最小值和期望值（目標(biāo)值）。

(6) 比較器功能、BIN功能

在LCR模式下，有一個(gè)比較器功能來確定Hi/IN/Lo的好壞，還有一個(gè)BIN功能（最多10個(gè)分類）適合選擇零件。

在分析儀模式下，可以通過面積確定和峰值確定兩種模式來確定掃描結(jié)果的好壞。

(7) 連續(xù)測量

在LCR模式下，最多可以連續(xù)測量30種不同的測量條件，在分析儀模式下，最多可以連續(xù)測量2種不同的測量條件。由于測量條件切換時(shí)間快，一臺(tái)設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)多種不同條件的測量。例如，對于功能性聚合物電容器，可以在一臺(tái)設(shè)備中實(shí)現(xiàn)120 Hz的C（電容）-D（損耗系數(shù)））測量和100 kHz的ESR（等效串聯(lián)電阻）測量。

(8) 接觸檢查功能

4 通過端子斷開檢查（僅限低阻抗高精度模式下）、高Z抑制功能和抖動(dòng)檢測功能，可以檢查探頭與DUT（被測物體）之間的接觸狀態(tài)。